X射線熒光光譜儀，ROHS測(cè)試儀XRF納優(yōu)E650

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     納優(yōu)系列儀器*符合電工委員會(huì)IEC62321標(biāo)準(zhǔn)及中國(guó)環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。納優(yōu)E650型RoHS檢測(cè)儀主要特點(diǎn)： 

 •  自選式功能組合   用戶(hù)根據(jù)自己的控制要求，可自主選擇多元素測(cè)試軟件或膜厚測(cè)試軟件（二選一）

•  全自動(dòng)配置   全自動(dòng)化的操作模式、人性化的操作界面，測(cè)試人員通過(guò)鼠標(biāo)即可完成全程操作（原級(jí)濾光片、準(zhǔn)直器、樣品的移動(dòng)和樣品蓋的開(kāi)關(guān)、工作曲線的選擇全部實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化控制，程序會(huì)根據(jù)預(yù)先設(shè)定的測(cè)試條件自動(dòng)進(jìn)行所有的切換動(dòng)作）； 

•  照射區(qū)精確控制系統(tǒng)   可精確調(diào)整的X光照射區(qū)域控制系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了對(duì)測(cè)試區(qū)域的準(zhǔn)確把握。從根本上保證測(cè)試數(shù)據(jù)與實(shí)際檢測(cè)區(qū)域的*對(duì)應(yīng)。

 •  成熟、經(jīng)典的分析方法：    憑借國(guó)家“七·五”“九·五”科技攻關(guān)計(jì)劃之科技成果，集成近二十五年分析測(cè)試應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)的經(jīng)典數(shù)學(xué)分析模型，為測(cè)試者提供可靠、精準(zhǔn)、穩(wěn)定的分析結(jié)果。 

•  強(qiáng)大的軟件功能   

1、分析軟件可根據(jù)樣品材質(zhì)、形狀、大小的不同自動(dòng)設(shè)定光管功率，既能延長(zhǎng)光管使用壽命又能充分發(fā)揮探測(cè)器性能，大幅提高測(cè)量精度；

 2、提供開(kāi)放式工作曲線標(biāo)定技術(shù)平臺(tái),可為每家用戶(hù)量身定做*的有害物質(zhì)檢測(cè)和控制方案；    

3、融合了一系列*的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準(zhǔn)的背景扣除方法、微商自動(dòng)尋峰和Quasi-Newton（準(zhǔn)牛頓）優(yōu)化算法等；    

4、的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。 

•  開(kāi)放性工作曲線   用戶(hù)可很方便的根據(jù)自身材質(zhì)狀況，針對(duì)性的建立風(fēng)險(xiǎn)材料的工作曲線，全面提高工作曲線與被測(cè)材料的對(duì)應(yīng)性。從而大幅度提升風(fēng)險(xiǎn)物質(zhì)的檢測(cè)精度，全面提升來(lái)料允收判定依據(jù)的可靠性。 

•  嚴(yán)謹(jǐn)?shù)挠布膳c結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)   對(duì)可能影響整機(jī)精確度及穩(wěn)定性的核心器件，全部采用進(jìn)口原廠器件。   

 模塊化設(shè)計(jì)與組件選擇，確保了整機(jī)性能的穩(wěn)定性與未來(lái)服務(wù)的操作簡(jiǎn)便性。 

   特別設(shè)計(jì)的原級(jí)、二次濾光系統(tǒng)，既保證了對(duì)有害元素的激發(fā)效率，同時(shí)全面降低了作為干擾因素的背景強(qiáng)度，充分提高峰背比，大幅度降低檢出下限。 

•  全光路射線防護(hù)系統(tǒng)   X光管、探測(cè)器、復(fù)合濾光處理系統(tǒng)、CCD、定位系統(tǒng)、全自動(dòng)準(zhǔn)直器切換系統(tǒng)等光路處理器件均集成在密閉結(jié)構(gòu)中。確保光路系統(tǒng)的穩(wěn)定性與密閉性，充分保證了測(cè)試安全。 

   合理的8種復(fù)合濾光片組合和自動(dòng)切換系統(tǒng)，既可以降低來(lái)自原級(jí)X射線干擾的影響，提高被測(cè)元素的靈敏度和測(cè)試精度，同時(shí)還具有輻射自動(dòng)防護(hù)功能，有效保護(hù)操作者安全。    特制高效散熱系統(tǒng)，大幅度提供儀器的可靠性。全光路射線防護(hù)設(shè)計(jì)，又避免了無(wú)射線區(qū)域的無(wú)謂屏蔽與保護(hù)，進(jìn)一步提高了散熱效率。全面提升了儀器的環(huán)境適應(yīng)性與穩(wěn)定性。    全光路輻射防護(hù)配合經(jīng)典的迷宮式輻射防護(hù)設(shè)計(jì)，同時(shí)采用軟、硬件雙重安全連鎖，確保操作人員人身安全。

--------------- 納優(yōu)E650型RoHS檢測(cè)儀參數(shù)：產(chǎn)品名稱(chēng) （product name）：Nayur X熒光無(wú)鹵分析儀 （Nayur halogen-free XRF） 型   號(hào)（type）：NaU-E650 測(cè)試對(duì)象（test object）：粉未、固體、液體（powder, solid, liquid） 測(cè)量時(shí)間（test time）：100-200s 管壓（tube voltage）：10KV-50KV 管流（tube flow）：50uA-1000uA 環(huán)境溫度（environment temperature）：15℃-30℃ 環(huán)境濕度（environment humidity）：30%-80% 樣品腔面積（sample cavity dimension ）：400mm×400mm×100mm 外形尺寸（instrument dimension）：730mm×440mm×330mm 重量（weight）：30Kg 

---------- 納優(yōu)E650型RoHS檢測(cè)儀配置：高分辨率電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器（high-resolution electric refrigeration semiconductor detector） 鹵素測(cè)試配件（halogen test accessory） 光路優(yōu)化系統(tǒng)（optical optimization system ） 內(nèi)置高清晰CCD攝像頭（high-resolution CCD camera） 自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片collimators and filters automatic switching system 全自動(dòng)定位測(cè)試系統(tǒng)（automatic positioning test system） 樣品倉(cāng)自動(dòng)開(kāi)關(guān)裝置（fully automatic sample cavity） 三重安全保護(hù)模式（triple security protected mode） 

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