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光譜橢偏儀
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訪問次數(shù)：293更新時間：2020-07-15 15:41:52
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產品介紹
光譜橢偏儀
產品型號：SE400adv
簡要描述：高性能橢偏儀，針對粗糙表面硅太陽能電池的測量裝置，擁有業(yè)內zui高測量精確度。
技術參數(shù)
■ 膜厚范圍：0-30000nm
■ 折射指數(shù)：± 0.0001
■ 厚度準確度：± 0.01nm
■ 入射角度：20 - 90°
■ 波長范圍：250-1100nm（深紫外、近紅外、紅外可選）
■ Psi=±0.01°，Delta=±0.02°
特點
■ 光譜范圍：UV/VIS range 250 - 1100 nm，可選擴展光譜范圍NIR （700 - 1700 nm） or （700 - 2100 nm）、UV-VIS 范圍（190 - 1100 nm） ；
■ 自動旋轉起偏器可精確測量任意偏振狀態(tài)；
■ 步進掃描分析儀可高速采集低噪音信號；
■ 可變角度范圍：from 10-90°，可升級為自動變角度10-90°控制 ；
■ 單層薄膜/多層薄膜快速薄膜厚度、折射率測量；
■ 專業(yè)測試軟件可大范圍Psi和Delta數(shù)據(jù)自動測量，并對測試數(shù)據(jù)進行采集和分析，內置幾百種材料數(shù)據(jù)庫；
■ 可擴展二維自動掃描平臺，實現(xiàn)（50X50mm, 100X100mm, 150X150mm or 200X200mm）Mapping測量功能以及3D分析；
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