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          上海百賀儀器科技有限公司

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          日本電子掃描電鏡JSM-IT300
          參考價(jià): 面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 產(chǎn)品型號(hào)
          • 品牌
          • 經(jīng)銷商 廠商性質(zhì)
          • 上海市 所在地

          訪問次數(shù):304更新時(shí)間:2022-04-23 10:05:25

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          產(chǎn)品簡(jiǎn)介
          日本電子掃描電鏡JSM-IT300
          產(chǎn)品介紹

          產(chǎn)品參數(shù)

          產(chǎn)品編號(hào): 日本電子掃描電鏡JSM-IT300所屬品牌: 日本電子
          產(chǎn)品型號(hào): JSM-IT300 額定功率:按實(shí)際方案提供
          所屬類別: 掃描電鏡所屬用途: 顯微觀察
          應(yīng)用領(lǐng)域: 所有工業(yè)領(lǐng)域
          產(chǎn)品特性: JSM-IT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過改進(jìn)照射系統(tǒng)、真空系統(tǒng)和信號(hào)處理系統(tǒng),不僅能觀察高質(zhì)量的圖像,還能利用觸控屏和快速樣品臺(tái)進(jìn)行高通量的直觀操作。JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對(duì)W-SEM機(jī)型的期待,新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。
          下載相關(guān)資料

          日本電子掃描電鏡JSM-IT300

          高質(zhì)量觀察 細(xì)微結(jié)構(gòu)的進(jìn)一步觀察

          ? 全新電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像

          ? 新差動(dòng)排氣系統(tǒng)擴(kuò)大了低真空壓力范圍

          高通量 的快速處理能力支持新一代操作環(huán)境

          ? 操作直觀的觸控屏界面

          ? 高通量樣品室

          ? EDS 集成化,一觸式分析。

          高擴(kuò)展性 多接口擴(kuò)展了分析范圍

          ? 多用途樣品室

          ? 豐富的選配件

          EDS、雙 EDS 探測(cè)器、WDS、EBSD 等多個(gè)預(yù)備接口。

          全新電子光學(xué)系統(tǒng)的高質(zhì)量成像


          JSM-IT300 提供高畫質(zhì)圖像,能滿足您對(duì) W-SEM 機(jī)型的期待,新的鏡筒設(shè)計(jì)和掃描系統(tǒng)使得不導(dǎo)電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著的提高。

          二次電子像

          通過高真空二次電子像觀察到的蝴蝶鱗粉??梢杂酶叩姆直媛视^察微觀結(jié)構(gòu)。

          背散射電子像

          通過在低加速電壓下觀察背散射電子成份像,能觀察到每個(gè)碳化鎢顆粒的通道襯度。

          新的掃描系統(tǒng)使低加速電壓下的圖像質(zhì)量更高

          幀累積法能抑制荷電效應(yīng),對(duì)極易充電的樣品可以輕松地進(jìn)行觀察。

          新的掃描方式能減輕樣品的帶電,不易受到樣品漂移的影響,即使是容易充電的樣品,高倍率下的圖像質(zhì)量也得到了顯著的提高。

          低真空模式

          全新的差動(dòng)抽氣系統(tǒng)

          新的差動(dòng)抽氣系統(tǒng)顯著提高了低真空模式下的圖像質(zhì)量,此外,低真空模式的

          壓力可高達(dá) 650Pa,進(jìn)一步擴(kuò)大了應(yīng)用范圍。

          低真空擴(kuò)展了壓力 :高達(dá) 650Pa

          含有大量水分的軟樣品可能會(huì)由于樣品室內(nèi)的壓力而無法保持原有的結(jié)構(gòu),這樣的

          樣品不進(jìn)行特殊處理就無法觀察。但低真空壓力范圍擴(kuò)展到 650 Pa 就可以進(jìn)行觀

          察,即使沒有特殊處理對(duì)樣品的損傷也很小。

          低真空二次電子像

          即使是低真空模式下,通過低真空二次電子像也能清晰地觀察有機(jī)材料的表面細(xì)節(jié)。

          EDS 集成化 EDS 一觸式分析

          JSM-IT300A/LA

          JEOL 是世界上一家集開發(fā)、制造和銷售于一身的 SEM 和 EDS 制造商。在觀察和分析過程中,輕觸屏幕即可進(jìn)行分析。

          一觸式分析

          在 SEM 的操作界面上,只需輕觸圖標(biāo)就可以執(zhí)行基本的分析功能。JEOL 的 SEM 和 EDS 一體化集成,提高了通量和易用性。

          基本的分析操作,在 SEM 的 GUI 上一觸即成。

          在 SEM 的 GUI 上,輕觸屏幕即可執(zhí)行基本的分析操作。



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