產(chǎn)品描述

XDV-SDD測量空間寬大，樣品放置便捷，可以放置平整的樣品，也可以放置形狀復雜的大樣品。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY工作臺完成。操作很人性化，測量門開啟方便，儀器前部控制面板具備多種功能，日常使用輕松便捷。

XDV-SDD型儀器是FISCHER產(chǎn)品中性能強大的X射線熒光儀器之一。它配備了特別加大的硅漂移探測器（SDD）。50mm?的探測器窗口確保能快速而精確地測量甚至是小面積的測量點。此外，儀器還配備了各種不同的濾波片，從而能為不同的測量任務建立優(yōu)化的激發(fā)條件。FISCHERSCOPE  XRAY XDVSDD型儀器配備了感應區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器，這樣在使用大準直器的情況下，可以達到很高的計數(shù)率，從而實現(xiàn)良好的重復精度和極低的檢測下限。XDV-SDD極其適合痕量分析中超薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度，同時可測元素的范圍也擴“大到更低原子序數(shù)的元素，這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。

應用實例：

法律條例嚴格限制多種有害物質(zhì)的含量，例如電子元件，玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能。例如，測量檢出限僅僅幾個ppm的特別重要的化學元素Pb、Hg和Cd等。

特征：

典型應用領域：