OMS材料物理光學(xué)屬性測量儀

OMS2材料物理光學(xué)屬性BRDF測量儀，用于測量光學(xué)材料表面BRDF光學(xué)屬性以及材料體光學(xué)屬性，測量出的數(shù)據(jù)經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的擬合，得出.BRDF格式的文件，這些文件都攜帶了材料的表面光學(xué)屬性和體光學(xué)屬性。這些數(shù)據(jù)文件可在OMS2支持軟件中直接讀取，在OMS2支持軟件的協(xié)助下完成雜散光仿真分析處理。國內(nèi)外用戶有拜爾材料、洛克希德馬丁、NASA、三星、LG、航天508所、中航工業(yè)上海航空電器有限公司等。

設(shè)備組成

OMS2材料BRDF光學(xué)屬性高精測量系統(tǒng)由OMS2測量儀、數(shù)據(jù)處理工作站、OMS4數(shù)據(jù)處理軟件。

注：B2DF的解釋

雙向反射分布函數(shù)（Bidirectional Reflectiondistribution function, BSDF）是研究物體表面粗糙度之光學(xué)性質(zhì)。由于物體表面上有凹凸不平的微小表面，一束入射光線射到表面而產(chǎn)生反射現(xiàn)象，用BRDF 來表示這種反射（散射）現(xiàn)象。其中雙向（Bidirectional）系指入射光與接受散射光的方向，因不同的入射光角度所產(chǎn)生的散射性質(zhì)亦不相同。BRDF 主要應(yīng)用在計算機仿真物體表面明亮度，與真實人眼所看物體之明亮度相符；另外可應(yīng)用在背光模塊之光學(xué)模擬，例如擴散膜之散射性質(zhì)。

測量波段

OMS2測量系統(tǒng)可獲得測量、提取材料在可見光以及近紅外波段的光學(xué)屬性，具體測量波段是400nm—670nm

測量結(jié)果

（1）材料表面光學(xué)屬性BRDF

a. 材料BRDF點陣數(shù)據(jù)

在使用OMS2測量材料時，儀器中的光電倍增管（PMT）在2π空間內(nèi)接受樣品反射以及透射的光能量數(shù)據(jù)，因此測量后會得到離散型的點陣數(shù)據(jù)。

b. 材料BRDF文件數(shù)據(jù)

離散型數(shù)據(jù)直接被使用于軟件仿真并不精確，所以所得的離散型數(shù)據(jù)必須經(jīng)過數(shù)據(jù)處理才可使用，OMS2系統(tǒng)的工作站中帶有由OPTIS研發(fā)出來的數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)，經(jīng)過OMS2數(shù)據(jù)處理軟件的數(shù)據(jù)擬合、處理可得出精確的可直接使用.BRDF格式的文件

結(jié)果中可以查看光的不同入射角度，以及不同波長時，光在材料表面反射、吸收的參數(shù)，并且還可查看反射的光型。

（2）OMS2數(shù)據(jù)處理軟件

OMS2數(shù)據(jù)處理軟件內(nèi)含有OPTIS大量材料屬性數(shù)據(jù)庫，可對采集到的離散型數(shù)據(jù)進(jìn)行處理擬合，生成.BSDF格式的材料面光學(xué)屬性文件，以及.Material格式的材料體光學(xué)屬性文件。生成的材料光學(xué)屬性文件可在OMS2支持軟件中使用。