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一、武漢航空高低溫沖擊試驗(yàn)箱詞解析

　三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA基扳、電子芯片、IC半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它，是理想測(cè)試工具.冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)，用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

二、武漢航空高低溫沖擊試驗(yàn)箱型號(hào)與技術(shù)參數(shù)

內(nèi)部尺寸 HxD(mm)

50L:360×350×350  80L:500×400×400  100L:600×400×400

150L:600×500×500  250L:700×600×600  480L:800×800×750

外部尺寸HxD(cm)

50L:1560×1750×1440   80L:1700×1800×1440   100L:1800×1800×1440

150L:1800×1900×1540  250L:1900×2000×1640  480L2020×2250×2150

溫度范圍：低溫(B：-40;C：-55;D：-65)~高溫+150℃

高溫區(qū)：+60℃~+200℃

低溫區(qū)：-10℃~-75℃;

升溫時(shí)間(蓄熱區(qū)) ：RT~200℃約需35min

降溫時(shí)間(蓄冷區(qū)) ：RT~-70℃約需85min

溫度恢復(fù)時(shí)間/轉(zhuǎn)換時(shí)間： ≤5min內(nèi) / ≤10sec內(nèi)

溫度控制精度/分布精度： ±0.5℃ / ±2.0℃

三、參照標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GJB360.7-87 溫度沖擊試驗(yàn)

SJ/T10187-91Y73 系列溫度變化試驗(yàn)箱—箱式

GJB150.3-86     GJB150.5-86 

GJB150.4-86 電子冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)箱，電子產(chǎn)品冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)

四、操作流程

一般來(lái)說(shuō)，三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱操作分為五部走：預(yù)處理、初始檢測(cè)、試驗(yàn)、恢復(fù)、zui后檢測(cè)。下面宏展設(shè)備和大家一起分享一下詳細(xì)流程內(nèi)容：

1.預(yù)處理：將被測(cè)樣品放置在正常的試驗(yàn)大氣條件下，直至達(dá)到溫度穩(wěn)定。

2.初始檢測(cè)：將被測(cè)樣品與標(biāo)準(zhǔn)要求對(duì)照，符合要求后直接放入三箱式冷熱沖擊試驗(yàn)箱內(nèi)即可。

3.試驗(yàn)：

1)試驗(yàn)樣品應(yīng)按標(biāo)準(zhǔn)要求放置在試驗(yàn)箱內(nèi),并將試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度升到點(diǎn)，保持一定的時(shí)間至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)度為準(zhǔn)。

2)高溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到-55℃的低溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)度為準(zhǔn)。

3)低溫階段結(jié)束后，在5min內(nèi)將試驗(yàn)樣品轉(zhuǎn)換到已調(diào)節(jié)到70℃的高溫試驗(yàn)箱(室)內(nèi)，保持1h或者直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定，以時(shí)間長(zhǎng)度為準(zhǔn)。

4)重復(fù)上述實(shí)驗(yàn)方法,以完成三個(gè)循環(huán)周期。根據(jù)樣件大小與空間大小，時(shí)間可能會(huì)略有誤差。

4. 恢復(fù)：試驗(yàn)樣品從試驗(yàn)箱內(nèi)取出后，應(yīng)在正常的試驗(yàn)大氣條件下進(jìn)行恢復(fù)，直至試驗(yàn)樣品達(dá)到溫度穩(wěn)定。

5.zui后檢測(cè)：對(duì)照標(biāo)準(zhǔn)中的受損程度及其它方法進(jìn)行檢測(cè)結(jié)果評(píng)定。

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