PLC 工控機(jī) 嵌入式系統(tǒng) 人機(jī)界面 工業(yè)以太網(wǎng) 現(xiàn)場(chǎng)總線 變頻器 機(jī)器視覺(jué) DCS PAC/PLMC SCADA 工業(yè)軟件 ICS信息安全 應(yīng)用方案 無(wú)線通訊
北京正通遠(yuǎn)恒科技有限公司
會(huì)員1.png)
北京正通遠(yuǎn)恒科技有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)Acoulyte
品 牌其他品牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地國(guó)外
聯(lián)系方式：Lisa查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間：2024-04-23 14:41:25瀏覽次數(shù)：464次
聯(lián)系我時(shí)，請(qǐng)告知來(lái)自 智能制造網(wǎng)納米等離子體傳感分析儀將光譜學(xué)與QCM-D相結(jié)合。同時(shí)使用納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。
產(chǎn)品信息
將光譜學(xué)與QCM-D相結(jié)合。同時(shí)使用納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)量。
主要特征
a、同時(shí)獲得相同表面上相同樣品的干質(zhì)量（折射率RI）、濕質(zhì)量（聲學(xué)）和黏彈性的實(shí)時(shí)變化。
b、使用Insplorion的納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）和Q-Sense的耗散監(jiān)測(cè)型石英晶體微天平技術(shù)（QCM-D）在*相同的實(shí)驗(yàn)條件下同時(shí)測(cè)量。
c、非常容易使用
技術(shù)指標(biāo)
傳感器
| 尺寸直徑 | 14 mm |
| 襯底 | SiO2涂層的QCM-D傳感器 |
| 表面 | 納米結(jié)構(gòu)金 |
測(cè)量特征
| 光源 | 鹵鎢燈 |
| 靈敏度* | 0.03單分子層 |
| 測(cè)量點(diǎn)直徑 | 3 mm |
| 時(shí)間分辨率 | 每秒10個(gè)采樣點(diǎn) |
| 典型噪音 | <0.01 nm |
| 波長(zhǎng)范圍 | 450-1000 nm |
QCM-D的測(cè)量不受Acoulyte的影響。
尺寸(寬度x深度x高度)
| Acoulyte模塊 | 8x5x3 cm |
| Insplorion光學(xué)單元 | 25x27x9 cm |
軟件
| 兼容軟件 | Insplorer |
| 操作系統(tǒng) | 兼容Microsoft Windows操作系統(tǒng) |
| 數(shù)據(jù)輸出格式 | ASCII碼文本文件格式，直接使用的任何繪圖軟件都兼容此格式 |
| 分析的參數(shù) | 分析的參數(shù)多參數(shù)輸出(比如：LSPR峰處的共振波長(zhǎng)和消光) |
應(yīng)用領(lǐng)域
NPS和QCM-D的互補(bǔ)性
測(cè)量 | 感應(yīng)深度 | |
NPS | 干質(zhì)量 | < 30 nm |
QCM-D | 濕質(zhì)量 | > 300 nm |
Acoulyte | 干質(zhì)量和濕質(zhì)量 | 深度分析 |
InsplorionNPS技術(shù)
在納米等離子體光譜技術(shù)（NPS）中，納米結(jié)構(gòu)傳感器的局域表面等離激元共振技術(shù)（LSPR）用于探測(cè)鄰近傳感器表面（<30 nm）的折射率（與光/干質(zhì)量有關(guān)）的微小變化。它能夠極其靈敏地檢測(cè)發(fā)生在傳感器/樣品界面處的變化過(guò)程。
整個(gè)膜的質(zhì)量變化。
Acoulyte能夠更詳細(xì)地闡釋表面薄膜的形成過(guò)程。
囊泡吸附時(shí)折射率增大
囊泡坍塌時(shí)折射率增大
囊泡吸附時(shí)質(zhì)量增大
囊泡坍塌時(shí)質(zhì)量減小
您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
智能制造網(wǎng) 設(shè)計(jì)制作，未經(jīng)允許翻錄必究 .? ? ?
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
