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          行業(yè)產(chǎn)品

          • 行業(yè)產(chǎn)品

          西安天光測控技術(shù)有限公司


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          大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)

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          參  考  價:599
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 產(chǎn)品型號

            ST-DP_X(1500V600A)

          • 品牌

            其他品牌

          • 廠商性質(zhì)

            生產(chǎn)商

          • 所在地

            西安市

          規(guī)格

          1500V/600A 599元 99臺 可售

          聯(lián)系方式:張先生查看聯(lián)系方式

          更新時間:2023-09-15 14:42:55瀏覽次數(shù):497次

          聯(lián)系我時,請告知來自 智能制造網(wǎng)

          經(jīng)營模式:生產(chǎn)廠家

          商鋪產(chǎn)品:14條

          所在地區(qū):陜西西安市

          聯(lián)系人:張先生 (銷售主管)

          產(chǎn)品簡介

          大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)
          用于測試 Diode, IGBTs,MOSFETs等分立器件動態(tài)交流參數(shù)測試
          1500V/600A,短路電流2500A

          詳細(xì)介紹


          大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)

          ST-DP_X(1500V600A)

          用于測試 Diode, IGBTs,MOSFETs等分立器件動態(tài)交流參數(shù)測試

          1500V/600A,短路電流2500A



          閾值電荷 Qg(th) 1nC~5000nC(支持 0.1nC 的*小測量值,*高可至 0.01nC)
          柵電荷 Qg 1nC~5000nC(支持 0.1nC 的*小測量值,*高可至 0.01nC)
          平臺電壓 VgP 0V~10V




          大功率IGBT動態(tài)測試系統(tǒng)
          ?產(chǎn)品簡述

          ST-DPX 系列產(chǎn)品是主要針對 半導(dǎo)體功率器件的動態(tài)參數(shù)測試 而開發(fā)設(shè)計。通過DUT適配器的轉(zhuǎn)換,可測試各類封裝外觀的 IGBTs,MOSFETs,DIODEs等功率器件,包括器件、模塊、DBC襯板以及晶圓。產(chǎn)品功能模塊化設(shè)計,根據(jù)用戶需求匹配功能單元。測試功能單元有DPT(雙脈沖測試 Double Pulse Testing,以下簡稱DPT。包含開通特性、關(guān)斷特性、反向恢復(fù)特性)柵電荷、短路、雪崩、結(jié)電容、柵電阻、反偏安全工作區(qū)等。測試方案*符合IEC60747-9標(biāo)準(zhǔn)。

          產(chǎn)品功能及輸出功率進(jìn)行了模塊化設(shè)計,滿足用戶潛在的后期需求,*高測試電壓電流可擴(kuò)展至10KV/10KA,變溫測試支持常溫到200℃,支持生產(chǎn)線批量化全自動測試。




          ?產(chǎn)品特點

          ? 測試系統(tǒng)電壓以1500V為一個模塊,電流以2000A為一個模塊,可擴(kuò)展至10KA/10KV

          ? 內(nèi)置7顆標(biāo)準(zhǔn)電感負(fù)載可選用, 另有外接負(fù)載接口,可實現(xiàn)不同電感和電阻負(fù)載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)

          ? 另有程控式電感箱可供選擇

          ? 針對不同結(jié)構(gòu)的封裝外觀,通過更換 DUT適配器即可

          ? 可進(jìn)行室溫到200℃的變溫測試,也可實現(xiàn)子單元測試功能

          ? 測試軟件具有實驗?zāi)J胶蜕a(chǎn)模式,測試數(shù)據(jù)可存儲為Excel文件

          ? 門極電阻可任意調(diào)整, 系統(tǒng)內(nèi)部寄生電感為*小至50nH

          ? 系統(tǒng)測試性能穩(wěn)定,適合大規(guī)模生產(chǎn)測試應(yīng)用(24hr 工作)

          ? 安全穩(wěn)定(PLC 對設(shè)備的工作狀態(tài)進(jìn)行全程實時監(jiān)控并與硬件進(jìn)行互鎖)

          ? 系統(tǒng)具有安全工作保護(hù)功能,以防止模塊高壓大電流損壞時對使用者造成傷害,設(shè)計符合CE認(rèn)證

          ? 支持半自動和全自動測試

          ? 采用品牌工控機(jī),具有抗電磁*力強(qiáng),排風(fēng)量大等特點

          ? 自動化:單機(jī)測試時只需手動放置DUT,也可連接機(jī)械選件實現(xiàn)自動化測試線

          ? 智能化,通過主控計算機(jī)進(jìn)行操控及數(shù)據(jù)編輯,測試結(jié)果自動保存及上傳局域網(wǎng)

          ? 安全性,防爆,防觸電,防燙傷,短路保護(hù)等多重保護(hù)措施,確保操作人員、設(shè)備、數(shù)據(jù)及樣品安全。



          ?參數(shù)指標(biāo)


          產(chǎn)品系列

          晶體管圖示儀

          半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)

          靜態(tài)參數(shù)測試(包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等)

          動態(tài)參數(shù)測試(包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等)

          環(huán)境老化測試(包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等)

          熱特性測試(包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)

          可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件












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