微分干涉顯微鏡 TMM-301 DIC適用于對多種物體的顯微觀察。配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置，具有圖像立體感且清晰、造型美觀，操作方便等特點，是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。

微分干涉顯微鏡 TMM-301 DIC

系統(tǒng)簡介

    本系統(tǒng)是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、*的計算機（數碼相機）技術*地結合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產品。不僅可以在計算機（數碼相機）顯示屏上實時觀察，并能對所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

技術參數

1.目鏡

2.物鏡

 3.DIC 觀察系統(tǒng)：10XDIC推拉組，20XDIC推拉組

4.載物臺：雙層機械移動式，大小210mm*140mm  移動范圍：75mm*50mm

5.目鏡筒:三目鏡 30° 傾斜

6.調焦系統(tǒng)：帶限位和調節(jié)松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm

7．轉換器：五孔（內向式滾珠定位）

8. 偏光裝置:: 起偏鏡組及檢偏鏡組

9. 照明系統(tǒng)：落射照明：12V50W鹵素燈，高度可調，內置視場光欄、孔徑光欄、(黃、藍、綠、磨砂玻璃)濾色片轉換裝置，推拉式檢偏器與起偏器

　　　　　　　　透射照明：阿貝聚光鏡  NA.1.25  ，可上下升降藍濾色片和磨砂玻璃集光器，鹵素燈照明適用(內置視場光欄) 12V 30W 鹵素燈,亮度可調

10.微分干涉相襯觀察時圖像清晰，干涉色均勻，具有較強的浮雕感。

11.光學系統(tǒng):采用優(yōu)良的防雜光系統(tǒng)

12.防霉系統(tǒng):*的防霉系統(tǒng)