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泰西（北京）精密技術(shù)有限公司
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工業(yè)CT：ZEISS METROTOM
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訪問次數(shù)：559更新時(shí)間：2018-11-23 16:00:47
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產(chǎn)品簡介
利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對精度的高要求。
產(chǎn)品介紹
工業(yè)CT：ZEISS METROTOM
用于質(zhì)量保證的三維 X 射線測量技術(shù)
利用蔡司的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，僅需一次 X 射線掃描，即可順利完成工件的測量和檢驗(yàn)。標(biāo)準(zhǔn)的驗(yàn)收檢測、精密工程和完善的校準(zhǔn)程序可確保系統(tǒng)的追蹤性。配備線性導(dǎo)軌及轉(zhuǎn)臺(tái)，滿足客戶對精度的高要求。
工業(yè)CT：ZEISS METROTOM
功能特點(diǎn)
1）測量與檢驗(yàn)整體部件
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗(yàn)塑料或輕金屬部件的工業(yè)計(jì)算機(jī)斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機(jī)測量時(shí)，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費(fèi)時(shí)的層層破壞方能獲得。
2）輕松且精準(zhǔn)地進(jìn)行多樣化特征檢測
利用 ZEISS METROTOM 計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準(zhǔn)，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點(diǎn)時(shí)，時(shí)間顯著縮短。
3）直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時(shí)間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進(jìn)行掃描。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報(bào)告中。
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