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探測(cè)-由于采用了無導(dǎo)頭探測(cè)系統(tǒng)，所以可移動(dòng)測(cè)量所有常見的粗糙度、波紋度和原始輪廓特性參數(shù)
用途霍梅爾T8000R專為測(cè)量各類復(fù)雜的粗糙度而設(shè)計(jì)
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