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半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備
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訪問(wèn)次數(shù)：184更新時(shí)間：2022-06-27 14:39:25
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品介紹
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備
設(shè)備介紹：
產(chǎn)品用途：半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備是專業(yè)用于電子電工環(huán)境老化的試驗(yàn)設(shè)備，可以準(zhǔn)確地模擬低溫、高溫、高溫高濕、低溫低濕等復(fù)雜的自然狀環(huán)境，適用于塑膠、電子電工產(chǎn)品、食品、儀器儀表、零部件、化學(xué)、建材等多種行業(yè)的產(chǎn)品可靠性檢測(cè)。
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法：
GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T10586-89 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.2-2001 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GJB150.3 高溫試驗(yàn) 
GB10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T2423.1-2001 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法
IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GJB150.4 低溫試驗(yàn)
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備技術(shù)參數(shù)：
1.試驗(yàn)箱容積：80L、100L、150L、225L、408L、800L、1000L（其它可非標(biāo)定制）
2.內(nèi)箱尺寸：最小W(寬)400 mm×H(高)500mm×D(深)400mm起
3.調(diào)溫調(diào)濕：靜平衡制冷能量調(diào)節(jié)技術(shù)（技術(shù)）
4.溫度范圍：C:-40℃~+150℃;D:-70℃~+150℃;B:-20℃~+150℃;A:0℃~+150℃
5.濕度范圍：20% ~ 98%RH
6.溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃
7.濕度波動(dòng)度：≤±2.5%RH
8.溫度偏差：≤±2.0℃
9.濕度偏差：+2～-3％（＞75％RH），±5％（≤75％RH）
10.溫度均勻度：≤2.0℃
11.升溫時(shí)間：+20℃升至+150℃，全程平均，3℃/分鐘
12.降溫時(shí)間：+20℃降至-70℃，全程平均，1℃/分鐘
13.冷卻方式：風(fēng)冷
半導(dǎo)體器件高低溫測(cè)試設(shè)備以上介紹的所有環(huán)境試驗(yàn)箱東莞市愛(ài)佩試驗(yàn)設(shè)備有限公司均有生產(chǎn)、銷售及服務(wù)，當(dāng)然還有更多模擬環(huán)境試驗(yàn)的設(shè)備還沒(méi)有一一列出，如有需求敬請(qǐng)與我司業(yè)務(wù)員聯(lián)系，會(huì)有專業(yè)的客服人員為大家選型、報(bào)價(jià)及提供詳細(xì)的技術(shù)方案供大家參考，：或電話：。
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