FT80-1X/FT80-2X臺式精密在線露點(diǎn)儀
高純氮?dú)馑謨xFT80-1X，99.999氮?dú)饴饵c(diǎn)測試儀
 
“壓力露點(diǎn)”與“常壓露點(diǎn)”有什么關(guān)系？ 
“壓力露點(diǎn)”與常壓露點(diǎn)之間的對應(yīng)關(guān)系與“壓縮比”有關(guān)，一般用圖表來表示。在“壓力露點(diǎn)”相同的情況下，“壓縮”比越大，所對應(yīng)的常壓露點(diǎn)越低。例如：0.7MPa的壓縮空氣壓力露點(diǎn)為-2時，相當(dāng)于常壓露點(diǎn)為-30℃。當(dāng)壓力提高到 1.0MPa時，同樣的壓力露點(diǎn)為-2℃時，對應(yīng)的常壓露點(diǎn)降至-33℃。

FT80-1X/FT80-2X臺式精密在線露點(diǎn)儀產(chǎn)品介紹:
經(jīng)過長年研發(fā)和悉心鉆研世界低濕測量的核心技術(shù)，成功研發(fā)出了除維薩拉DMT242 露點(diǎn)變送器以外的真正國產(chǎn)化的芯片加熱核心技術(shù)，成功打破了維薩拉公司在這方面的技術(shù)壟斷，經(jīng)過多家公司的試用后均反饋很好，并送國家*嚴(yán)格測試符合國標(biāo)。它的恒空出世將*降低企業(yè)的采購成本，*可以替代市場上-80℃以上的同類進(jìn)口露點(diǎn)產(chǎn)品。

芯片加熱：所有水分測量探頭，經(jīng)過一段時間工作，由于工作環(huán)境的不良（如：油污、粉塵、腐蝕氣、酸堿氣體等），會對探頭造成傷害，引起探頭測量數(shù)據(jù)漂移產(chǎn)生偏差。***解決的辦法就是對芯片進(jìn)行高溫加熱。一般加熱在160℃以上，持續(xù)幾分鐘，用于蒸發(fā)芯片上的水分及油污，保證它的零位準(zhǔn)確度。加熱階段，露點(diǎn)儀停止工作。經(jīng)過幾分鐘冷卻，又可進(jìn)入循環(huán)測量。理論上講溫度變化與露點(diǎn)溫度不存在關(guān)聯(lián)。溫度僅與相對濕度有關(guān)聯(lián)，所以探頭加熱不影響露點(diǎn)溫度測量。

加熱條件：我們的探頭啟動加熱條件，當(dāng)外部氣體露點(diǎn)≤-40℃時，軟件自動開啟加熱條件。加熱溫度為170 度，持續(xù)四分鐘，然后進(jìn)入冷卻階段約2 分鐘。用于探頭數(shù)據(jù)的平衡整理。為了保證探頭在-40℃以上*干燥，我們的探頭溫度始終恒定在30℃的環(huán)境工作（溫度與露點(diǎn)無關(guān)），用于阻止細(xì)微的水汽與油污。所以我們有大加熱170℃與小加熱30℃。二者僅緊密結(jié)合，保證探頭始終位于干燥環(huán)境。
高純氮?dú)馑謨xFT80-1X，99.999氮?dú)饴饵c(diǎn)測試儀

參數(shù)