Escan基礎(chǔ)級(jí)三維掃描儀基礎(chǔ)級(jí)白光和藍(lán)光三維掃描儀，主要應(yīng)用于產(chǎn)品研發(fā)設(shè)計(jì)（RD）、逆向工程（RE）、三維檢測(cè)（CAV），是開發(fā)產(chǎn)品、品質(zhì)檢測(cè)的*工具。

Escan基礎(chǔ)級(jí)三維掃描儀主要特點(diǎn)如下： 
1. 非接觸掃描物體：
利用照相式原理，進(jìn)行非接觸式光學(xué)掃描獲得物體表面三維數(shù)據(jù)，除常規(guī)物體外，還可對(duì)柔性材料等接觸易變形材料的表面進(jìn)行測(cè)量。
2.掃描速度極快：
*的面掃描方式，速度極快（單面掃描時(shí)間小于3秒）。
3.高精度：
利用*的標(biāo)定技術(shù)，可獲得非常高的測(cè)量精度；精度檢測(cè)方法是依據(jù)德國(guó)光學(xué)掃描儀測(cè)量檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)VDI/VDE 2634進(jìn)行制定。
4.高密度采樣點(diǎn)云：
高性能測(cè)量相機(jī)可以一次獲得較高密度的點(diǎn)云數(shù)據(jù)，單次可獲取130萬(wàn)點(diǎn)。
5.便攜式設(shè)計(jì)：
機(jī)器尺寸小，所有部件靈活可靠、方便移動(dòng)，可根據(jù)現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際情況進(jìn)行測(cè)量。
6.對(duì)環(huán)境條件不敏感：
采用高性能的光學(xué)和機(jī)械部件，可以在大多數(shù)的環(huán)境下獲得高性能的數(shù)據(jù)。相對(duì)其他光學(xué)式掃描系統(tǒng)而言，該系統(tǒng)不需要在暗室中操作，適用環(huán)境范圍非常廣泛，甚至可以在露天環(huán)境進(jìn)行掃描操作。
7.采用雙曝光技術(shù)，對(duì)黑白雙色的材質(zhì)可一次性獲取三維模型；
8.操作軟件界面友好：
高度集成和智能化的軟件界面設(shè)計(jì)，使用戶無(wú)論經(jīng)驗(yàn)多少都不需過多的培訓(xùn)就可以熟練操作。
9.測(cè)量輸出數(shù)據(jù)：
測(cè)量結(jié)果輸出為ASC，STL等格式，可以與Solidworks、UG、Pro/e、CATIA、Geomagic等三維軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。