1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；
2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黃金成分分析
4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；
5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；
6.全自動測量，如：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。
暫無信息 |
您好, 歡迎來到智能制造網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
您好, 歡迎來到智能制造網(wǎng)！ 登錄| 免費(fèi)注冊| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置：廣東正業(yè)科技股份有限公司>>PCB儀器裝備>>菲希爾測厚儀>> X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀X-RAY XDV-SDD
| 參 考 價: | 面議 |
產(chǎn)品型號
品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所在地東莞市
更新時間：2025-03-11 08:38:01瀏覽次數(shù)：20次
聯(lián)系我時，請告知來自 智能制造網(wǎng)1.分析超薄鍍層，如：厚度≤0.1um的Au和Pa鍍層；
2.印刷線路板上RoHs及WEEE要求的痕量分析；
3.黃金成分分析
4.測量電子工業(yè)或半導(dǎo)體工業(yè)中的功能性鍍層；
5.分析復(fù)雜的多鍍層系統(tǒng)；
6.全自動測量，如：用于質(zhì)量控制領(lǐng)域。
 |
 |
 |
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供，信息內(nèi)容的真實(shí)性、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé)，智能制造網(wǎng)對此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示：為規(guī)避購買風(fēng)險，建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。
| 評價時間 | 類別 | 詳細(xì)內(nèi)容 | 評價者 | IP地址 |
智能制造網(wǎng)