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當前位置：北京高光科技有限公司>>激光光束質(zhì)量分析儀>> BeamProFiler光束分析儀聚焦光斑分析儀
| 參 考 價: | 面議 |
產(chǎn)品型號BeamProFiler光束分析儀
品牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所在地北京市
更新時間：2022-03-10 18:05:12瀏覽次數(shù)：597次
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測量小聚焦光斑一直是激光光束分析儀的難題之一，主要問題是光斑的聚焦性太強而且光斑太小。如果是連續(xù)光，使用狹縫掃描型NanoScan光束分析儀就可以解決這個問題，但是有時光斑太小，它的功率密度就會超過狹縫材料的損傷閾值，從而損傷狹縫。如果是脈沖光，就需要使用相機型光束分析儀，但是此時常規(guī)的衰減器很難也不可能起到合適的作用。聚焦光斑分析儀通過使用成像透鏡并在透鏡后進行衰減就解決了這一難題，利用透鏡系統(tǒng)的放大作用，聚焦光斑分析儀可以精確測量相機型光束分析儀不能測量的小光斑，整套系統(tǒng)由USBPro或FireWire BeamPro相機、成像透鏡、一對棱鏡反射衰減器和ATP-K連續(xù)可調(diào)衰減器（帶ND2.8固定衰減器）組成，可以把10W的光束衰減到相機可以接受的pW水平，但不影響光束質(zhì)量的測量結(jié)果。
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