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          可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測試箱

          參  考  價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準

          產(chǎn)品型號

          品       牌

          廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

          產(chǎn)品資料下載

          所  在  地東莞市

          更新時間:2016-01-29 12:08:58瀏覽次數(shù):490次

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          可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測試箱5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏,中英文操作畫面任意選擇,觸控式屏幕面板,操作簡單,美觀大方,程序編輯容易。

          可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測試箱技術參數(shù):
          高/低溫試驗箱 AP-GD-80    AP-GD-150    AP-GD-225    AP-GD-408
          內(nèi)箱尺寸(mm)    400×500×400    500×600×500    500×750×600    600×850×800
          運行方式:程序運行,可編定多個程序循環(huán)做試驗
          技術參數(shù)
          高低溫度范圍:0~150℃;-20~150℃;-40~150℃;-60~150℃;-70~150℃
          溫度波動度:±0.5℃
          溫度均勻度:≤2.0℃
          溫度偏差:±2℃
          溫度控制器:原裝韓國進口三元品牌的TEMI880智能型控制系統(tǒng)
          溫度傳感器:Pt100鉑電阻
          制冷系統(tǒng)
          制冷壓縮機/方式    進口全封閉壓縮機組/單級壓縮制冷,二元復疊壓縮制冷
          冷卻方式:風冷
          安全保護措施:超壓、漏電、超溫、過載、短路等保護
          材料:箱體/保溫材料:外殼高級不銹鋼板靜電噴塑、內(nèi)膽采用優(yōu)質(zhì)SUS304不銹鋼板、保溫材料:聚氨酯泡沫
          標準配置:¢50測試孔一個(多個或者更大直徑請下單時說明),試品擱板二套,照明燈

          可程式控制器的主要功能:
          1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏,中英文操作畫面任意選擇,觸控式屏幕面板,操作簡單,美觀大方,程序編輯容易。
          2、zui大具有120組可編定的程序容量,每組可記憶100段溫度自行操作。
          3、具有多項擴充功能,控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計算機聯(lián)機,也可定制USB導出數(shù)據(jù),可連接打印機打印高低溫度曲線監(jiān)控數(shù)據(jù)。
          4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實時顯示執(zhí)行及設定程序曲線。
          5、故障報警,并顯示排除故障的方法。
          6、采用*的微處理器芯片,可靠性高,抗*力強。

          可程式高低溫交變箱/光纜高低溫環(huán)境測試箱指的是工業(yè)成品、半成品、產(chǎn)業(yè)界零配件、原材料做科學研究實驗的基本設備之一。根據(jù)科學研究實驗的目的,盡可能地排除外界環(huán)境不同高低溫氣候的影響,突出主要溫度并利用高低溫實驗設備人為地設定變溫、控制或模擬環(huán)境氣溫,使一些的產(chǎn)品在生產(chǎn)或者使用(或過程)發(fā)生或再現(xiàn)真實性環(huán)境實驗,從而去測試、試驗、對比、檢測因自然界的環(huán)境現(xiàn)象、氣候性質(zhì)、物理傷害等效果評估。

          執(zhí)行與滿足標準
          GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
          GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A:低溫試驗方法;
          GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B:高溫試驗方法;
          GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法;
          GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術條件》;
          GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術條件》;。
          MIL-STD810D方法502.2 美國標準;
          IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗
          EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

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