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超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備

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公司名稱上海昊量光電設(shè)備有限公司
品牌
型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2019/4/9 11:19:16
訪問次數(shù)418

產(chǎn)品標(biāo)簽:

光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備廠商光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備供應(yīng)光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備價(jià)格求購光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備上海光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

上海昊量光電設(shè)備有限公司是目前國內(nèi)光電產(chǎn)品專業(yè)代理商，也是近年來發(fā)展很快的光電代理企業(yè)。除了擁有一批專業(yè)技術(shù)銷售的工程師之外，還有擁有一支強(qiáng)大技術(shù)支持隊(duì)伍。我們的技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)可以為客戶提供完整的設(shè)備安裝，培訓(xùn)，硬件開發(fā)，軟件開發(fā)，系統(tǒng)集成等工作。不但為客戶提供適合的產(chǎn)品，而且為客戶提供完善的服務(wù)是我們始終秉承的理念！

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光學(xué)測(cè)量設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測(cè)。

超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備產(chǎn)品信息

超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)是Hinds應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)家族系列產(chǎn)品。該應(yīng)力雙折射測(cè)量系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測(cè)量光學(xué)組件應(yīng)力分布測(cè)量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測(cè)產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測(cè)樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測(cè)。

150AT 應(yīng)力雙折射系統(tǒng)可以根據(jù)客戶需求選擇設(shè)置，使得測(cè)量更有針對(duì)性（高精度/大范圍相位延遲量），系統(tǒng)有著*測(cè)量速度的同時(shí)也具有*的測(cè)量分辨能力（<1 mm grid spacing ），150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)也提供傾斜位移平臺(tái)等設(shè)計(jì)來幫助客戶完成一些非常規(guī)掃描/測(cè)量需求。

超精密光學(xué)應(yīng)力測(cè)量設(shè)備產(chǎn)品特點(diǎn)

自動(dòng)X/Y位移平臺(tái)掃描
二維/三維圖形/參數(shù)表格顯示樣品應(yīng)力分布測(cè)量結(jié)果
臺(tái)式整機(jī)設(shè)計(jì)組裝
靈活位移平臺(tái)設(shè)計(jì)，滿足個(gè)性化定制需求
強(qiáng)大數(shù)據(jù)擬合分析功能和友好用戶界面

參數(shù)

	高精度測(cè)量系統(tǒng)選項(xiàng)	大范圍相位延遲量測(cè)量選項(xiàng)
相位延遲量范圍:	0.005 to 120+ nm	0.005 to 300+ nm
相位延遲量測(cè)量分辨率/ 重復(fù)精度1, 2, 3:	0.001 nm / ± 0.008 nm	0.0 1 nm / ± 0.015 nm
角度測(cè)量分辨率 / 重復(fù)精度1:	0.01º / ± 0.05°	0.01º / ± 0.07°
測(cè)量速率 / 時(shí)間4:	up to 100 pps / sample size dependent
尺寸:	910 mm (H) x 415 mm (W) x 700 mm (D)
光源波長(zhǎng)5:	Various (632.8 nm standard)
測(cè)量光斑6:	Between 1 mm and 3 mm native (can be as low as 50 µm)
內(nèi)置測(cè)量調(diào)制頻率:	PEMLabsTM Photoelastic Modulator 50 kHz or 50/60 kHz
解調(diào)分析技術(shù):	Hinds Instruments SignalocTM Lock-in Amplifier or Wave Form Capture Card
測(cè)量單位:	nm (retardation), ° (angle)