EVO掃描電子顯微鏡系列將高性能的掃描電鏡和直觀(guān)的、友好的用戶(hù)界面體驗(yàn)結(jié)合在一起， 同時(shí)能夠吸引經(jīng)驗(yàn)豐富的用戶(hù)以及新用戶(hù)。無(wú)論是在生命科學(xué)， 材料科學(xué)， 或例行的工業(yè)質(zhì)量保證和失效分析領(lǐng)域，憑借廣泛的可選配置， EVO 都可以根據(jù)您的要求量身定制。

EVO掃描電子顯微鏡特點(diǎn)：

      •  顯微鏡中心或工業(yè)質(zhì)量保證實(shí)驗(yàn)室的多功能解決方案

      •  不同的真空室大小和可滿(mǎn)足所有應(yīng)用要求的載物臺(tái)選項(xiàng)-甚至是

          大型工業(yè)零部件樣品

      •  使用LaB6燈絲，能夠得到優(yōu)異的圖像質(zhì)量

      •  對(duì)不導(dǎo)電和無(wú)導(dǎo)電涂層的樣品的成像和分析性能出色

      •  可以配置多種分析探測(cè)器用于滿(mǎn)足各種顯微分析應(yīng)用的需求

適合更多用戶(hù)操作

對(duì)于經(jīng)驗(yàn)豐富的以及新手用戶(hù)操作都很方便

在實(shí)際的實(shí)驗(yàn)室環(huán)境中，SEM 的操作通常是顯微鏡專(zhuān)家的專(zhuān)屬領(lǐng)域。但是對(duì)于非專(zhuān)家級(jí)用戶(hù)來(lái)說(shuō)，操作SEM就變得具有挑戰(zhàn)，比如學(xué)生、受訓(xùn)者或質(zhì)量工程師，他們往往也需要從 SEM獲取數(shù)據(jù)。 EVO 則同時(shí)考慮了這兩類(lèi)用戶(hù)的需求，用戶(hù)界面選項(xiàng)既能滿(mǎn)足有經(jīng)驗(yàn)的顯微鏡專(zhuān)家也能滿(mǎn)足非專(zhuān)業(yè)用戶(hù)的操作需要。

相機(jī)可以安裝在倉(cāng)室前方， 以監(jiān)測(cè)樣品與背散射探測(cè)器以及物鏡底端之間的相對(duì)位置(倉(cāng)室相機(jī))；或安裝在真空室倉(cāng)門(mén)上方 (導(dǎo)航相機(jī))， 利用俯視圖查看樣品臺(tái)上樣品的擺放位置。此視圖可用于設(shè)置從光學(xué)顯微鏡圖像中識(shí)別出的預(yù)定義位置， 并在整個(gè)樣品測(cè)試過(guò)程中輕松導(dǎo)航。