冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試箱價(jià)格是用于測(cè)試手機(jī)連接器，電腦連接器，電源連接器，信號(hào)連接器，PCB連接器，F(xiàn)PC連接器，電感器、濾波器、變壓器，電子，電器，電子產(chǎn)品，電子元器件，數(shù)碼產(chǎn)品，手機(jī)，電腦，太陽(yáng)能組件，光伏組件，光纖，光電，LED，LCD，PCB，F(xiàn)PC，微電子，電機(jī)，航天，航空，汽車(chē)燈產(chǎn)品及零部件在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。
冷熱循環(huán)沖擊測(cè)試箱價(jià)格滿(mǎn)足的試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法； 
GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法； 
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)； 
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)； 
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)； 
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。 
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式 
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式 
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化 
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則 
GB/T 2423.22-2002溫度變化 
QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則 
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估 
性能參數(shù)參考如下：
一、低溫沖擊可選擇溫度范圍：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（廠(chǎng)家還免費(fèi)配高溫至150度）
二、溫度偏差：±2℃
三、溫度波動(dòng)度：±0.5℃。
四、溫度恢復(fù)時(shí)間：≤5min。
五、溫度恢復(fù)條件：高溫150℃曝露30min低溫-20℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-40℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-55℃曝露30min，高溫150℃曝露30min低溫-65℃曝露30min。
六、溫度沖擊轉(zhuǎn)移方式：采用氣動(dòng)驅(qū)動(dòng)。   
七、高溫室儲(chǔ)溫的升溫時(shí)間：30min (+25℃～+200℃)。
八、低溫室儲(chǔ)溫的降溫時(shí)間：65min (+25℃～-75℃)。
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2.定期回訪(fǎng)：設(shè)備巡檢，排除故障隱患，傳遞

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