儀器介紹

CMI900X射線熒光鍍層測厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。

主要特點(diǎn)

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）

可檢測元素范圍：Ti22 – U92

可同時(shí)測定5層/15種元素

精度高、穩(wěn)定性好

強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

測量范圍寬

NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

服務(wù)及支持

技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格  規(guī)格描述 

X射線激發(fā)系統(tǒng)  垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗 

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等 

功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn)       75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選 

裝備有安全防射線光閘 

二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 

準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)  zui多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 

多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選： －圓形，如4、6、8、12、20 mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等    

測量斑點(diǎn)尺寸  在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui小測量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器） 

在12.7mm聚焦距離時(shí)，zui大測量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器） 

樣品室  CMI900  CMI950 

－樣品室結(jié)構(gòu)  開槽式樣品室  開閉式樣品室 

－zui大樣品臺尺寸  610mm x 610mm  300mm x 300mm 

－XY軸程控移動范圍  標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選  300mm x 300mm 

－Z軸程控移動高度  43.18mm  XYZ程控時(shí)，152.4mm XY軸手動時(shí)，269.2mm 

－XYZ三軸控制方式  多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動控制 

－樣品觀察系統(tǒng)  高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 

激光自動對焦功能 

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 

計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置  IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī) 

分析應(yīng)用軟件  操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺 分析軟件包：SmartLink FP軟件包 

－測厚范圍  可測定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。 

－基本分析功能  采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量） 

可檢測元素范圍：Ti22 – U92 

    可同時(shí)測定5層/15種元素/共存元素校正 

貴金屬檢測，如Au karat評價(jià) 

    材料和合金元素分析， 

材料鑒別和分類檢測 

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量 

多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 

元素光譜定性分析 

－調(diào)整和校正功能  系統(tǒng)自動調(diào)整和校正功能，自動消除系統(tǒng)漂移