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韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

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公司名稱儀高南儀器（深圳）有限公司
品牌
型號QQ51024412
所在地深圳市
廠商性質(zhì)代理商
更新時間2022/2/9 18:02:31
訪問次數(shù)718

產(chǎn)品標簽:

Micro Pioneer XRF-2000 XRF2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

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公司介紹主營產(chǎn)品

深圳市錦賢科技有限公司（SHENZHEN GENESEA TECHNALOGY CO., LTD.）是一家專業(yè)從事進口儀器儀表、機電設(shè)備代理、銷售及技術(shù)服務(wù)的有限責(zé)任公司，服務(wù)對象主要為廠礦、企事業(yè)單位、科研院所及大專院校。公司主要員工均為儀器儀表、機電設(shè)備行業(yè)*人士，有著較為豐富的實際工作經(jīng)驗，可以為廣大客戶提供專業(yè)的售前咨詢及優(yōu)質(zhì)的售后服務(wù)。

同時設(shè)立東莞辦事處及電子數(shù)碼維修服務(wù)部。東莞辦事處除銷售儀器儀表等產(chǎn)品外，主要負責(zé)各類進口工業(yè)膠帶及電子膠水的銷售，主要行業(yè)為：電子、電氣、汽車、醫(yī)療、通訊、機械及家電等多個行業(yè)。電子數(shù)碼維修服務(wù)部座落于深圳華強電子世界，主要維修各*數(shù)碼相機、筆記本等，并銷售相關(guān)零配件。

我們致力于降低客戶的生產(chǎn)成本，并提高產(chǎn)品品質(zhì)，為客戶創(chuàng)造更有利的竟爭優(yōu)勢。不僅提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品，也在產(chǎn)品的選擇、應(yīng)用等方面提供專業(yè)的咨詢和解決方案，建立起*的優(yōu)質(zhì)售后服務(wù)。本司經(jīng)營種類繁多，品種齊全，價格合理，希望我們本著熱情服務(wù)、優(yōu)良品質(zhì)、及專業(yè)精神成為您值得信賴的合作伙伴。

主要經(jīng)營的儀器儀表：
韓國Micro Pioneer XRF-2000系列測厚儀
德國ROENTGENANALYTIK宏德X-射線測厚儀
美國Kocour庫侖測厚儀（標準片）、侯氏槽、陰/陽極片、離心機等
美國DICKSON/DeltaTRAK/OMEGA溫（濕）度記錄儀
美國CalMetics X-Ray金屬鍍層測厚儀標準片
日本KYORITSU共立WAK-水質(zhì)離子測試包
美國WALCHEM（禾威）自動添加控制器
美國CMI孔面銅測厚儀
美國DolanJenner光纖光源
美國EXTEC研磨 / 拋光器材及消耗品
俄羅斯INTRON PHT-2/ITM-525 、PTH-1/ITM-52手提式線路板孔銅測厚儀
新加坡QTEST CIMS 特性阻抗測試儀
美國UPA / VEECO非破壞性厚度測試儀、標準片
美國SCS OMEGA 600SMD/Ionograph 500M SMD離子污染測試儀
美國S.E.（SEINTL）輻射檢測儀
德國SCAN-DIA研磨 / 拋光器材及消耗品
英國JENWAY分光光度計
日本IWAKI工業(yè)用泵
美國BARCOR、Kwik-Chek孔徑測量規(guī)
美國ECI電鍍藥液分析系統(tǒng)
日本KETT磁感/渦流涂層測試儀
美國INNOV-X伊諾斯RoHS分析儀（手提式:XRF 6500，臺式:Ray-tek1800）
日本SHIMADZU（島津）分光光度計、X射線熒光分析儀
韓國K-Mac ST4080-OSP 光學(xué)測厚儀
美國Solar Metrology 太陽能薄膜電池厚度測量儀
美國SPELLMAN 高壓電源供應(yīng)器
美國RPS可焊性測試儀
美國MetOne塵埃離子計數(shù)器
美國UNITRON工業(yè)用顯微鏡系統(tǒng)及表面光滑度測試儀
美國EXTECH多用途萬用表
美亞板材厚度測試儀、銅箔剝離強度儀
蔚儀研磨/拋光器材及耗材

主要經(jīng)營的工業(yè)膠帶品牌：
DIC，3M，SONY，NITTO，寺崗
電子膠水品牌：
信越，GE東芝，樂泰

深圳市錦賢科技有限公司真誠希望能同您和您的公司攜起手來，共同發(fā)展。我們能給您提供更好的服務(wù)、更好的價格。

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帳號：4000026309200132349

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產(chǎn)品簡介在線詢價

1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。

韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀產(chǎn)品信息

韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測厚儀/膜厚儀

產(chǎn)品介紹

X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

XRF-2000 系列分為以下三種：
1. H-Type :密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L-Type : 密閉式樣品室，方便測量樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB-Type : 開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測。
應(yīng)用 :
測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）。
行業(yè) :
五金類、螺絲類、 PCB 類、連接器端子類行業(yè)、電鍍類等。
特色 :
  非破壞，非接觸式檢測分析，快速精準。
  可測量高達六層的鍍層（五層厚度 + 底材）并可同時分析多種元素。
  相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告。
  全系列*設(shè)計樣品與光徑自動對準系統(tǒng)。
  標準配備: 溶液分析軟體，可以分析電鍍液成份與含量。
準直器口徑多種選擇，可根據(jù)樣品大小來選擇準值器的口徑。
  移動方式：全系列全自動載臺電動控制，減少人為視差。
  *2D與3D或任意位置表面量測分析。
  雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能。

標準ROI軟體搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式，亦可將數(shù)據(jù)、圖形、統(tǒng)計等作成完整報告。

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位。

單位選擇： mils 、 uin 、 mm 、 um 。
  優(yōu)於美製儀器的設(shè)計與零件可靠度以及擁有價格與零件的*優(yōu)勢。
  儀器正常使用保固期一年，強大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù)。
  測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987。