當前位置：上海德竹芯源科技有限公司>>半導體檢測設(shè)備>>SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

SENTECH-激光橢偏儀 - (SE 400adv)

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號SE 400adv

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地上海

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：查看聯(lián)系方式

更新時間：2024-05-15 09:05:10瀏覽次數(shù)：98次

聯(lián)系我時，請告知來自智能制造網(wǎng)

產(chǎn)品分類 品牌分類

暫無信息

上海德竹芯源科技有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：154條

所在地區(qū)：

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400adv 表征吸收膜特征。

詳細介紹

亞埃精度

● 穩(wěn)定的氦氖激光器保證了 0.1 埃精度的超薄單層薄膜厚度測量。

擴展激光橢偏儀的極限

● 性能優(yōu)異的多角度手動角度計和角度精度*的激光橢偏儀允許測量單層薄膜和層疊膜的折射率、消光系數(shù)和膜厚。

高速測量

● 激光橢偏儀 SE 400adv 的高速測量速度使得用戶可以監(jiān)控單層薄膜的生長和終點檢測，或做樣品均勻性的自動掃描。

● 激光橢偏儀 SE 400adv 可用于從可選擇的、應(yīng)用特定的入射角度表征單層薄膜和基片。自動準直透鏡確保在大多數(shù)平坦反射表面的吸收或透明襯底上進行準確測量。多角度測量的集成支持(40°—90°，5° 步進)，可用于確定層疊的厚度、折射率和消光系數(shù)。為了補償激光橢偏測量中厚度測量的模糊性，厚度測量中也采用了多角度測量。

● 激光橢偏儀 SE 400adv，用于超薄單層薄膜的厚度測量。小型臺式儀器由橢偏儀光學部件、角度計、樣品臺、自動準直透鏡、氦氖激光光源和檢測單元組成。激光橢偏儀 SE 400adv 的選項支持在微電子、光伏、數(shù)據(jù)存儲、顯示技術(shù)、生命科學、金屬加工等領(lǐng)域的應(yīng)用。