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          產(chǎn)品|公司|采購|資訊

          multiple 測(cè)試適配器

          參考價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱上海九禮川貿(mào)易有限公司
          • 品       牌
          • 型       號(hào)ADP401A-16
          • 所  在  地上海
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時(shí)間2018/2/11 2:25:47
          • 訪問次數(shù)1729
          產(chǎn)品標(biāo)簽:

          IGBT模塊測(cè)試Scanner

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          美國STI公司全面的分立器件靜態(tài)參數(shù)解決方案供應(yīng)商;

              美國科學(xué)測(cè)試儀器公司,全稱 Scientific Test, Inc.簡稱STI,總部位于美國德克薩斯州達(dá)拉斯市。STI1981年成立至今,三十年如一日專注于分離器件的測(cè)試源及自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的的開發(fā);目前其產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于美國軍工,半導(dǎo)體及電子制造工廠的QC/CP/FT/FA等部門。 

                  STI公司的ST5300HX系列產(chǎn)品是一款先進(jìn)的功率器件測(cè)試儀,測(cè)試范圍廣覆蓋幾乎所有的二極管,三極管,功率管。該產(chǎn)品提供2000V高壓,1200A大電流的靜態(tài)測(cè)試的解決方案。

          重要客戶:

          TI  IR   IXY  diodes Onsemi 三星 東芝

          • ABB(瑞士)     霍尼韋爾 艾默生 愛立信

          Acme Electric U.S.A.     American Reliability Labs U.S.A  International Rectifier England

          • 波音客機(jī) 休斯頓工業(yè)院  Testlab N.A. U.S.A.  TRW U.S.A.等眾多軍工研究院及跨國公司。

          技術(shù)優(yōu)勢(shì):

          STI全面的分立器件靜態(tài)參數(shù)解決方案供應(yīng)商;

          測(cè)試范圍廣,CP/FT/FA LAB,測(cè)試種類包括96個(gè)大項(xiàng),256個(gè)小項(xiàng);

          CURVE TRACE   (I-V曲線 )

          快速智能測(cè)量,*智能控制自動(dòng)測(cè)量;

          采用準(zhǔn)DC電源,寬電壓電流輸出2000V,1200A;

          主要產(chǎn)品對(duì)應(yīng)參數(shù)

          ST1005HX         1000V 50A;

          ST2005HX         2000V 50A;

          ST2010HX         2000V 100A;

          ST2050HX         2000V 500A;

          ST2100HX         2000V 1000A;

          ST2120HX         2000V 1200A;10V@1200A

          ST-1000LC        1pA漏電

          完整的手自動(dòng)測(cè)試夾具配套解決方案SCANNER;

          TO-220/218,TO-72,TO-5/18,TO-92,TO-3/66,Axial (small and large),DP-4/5,

          8 Pin DIP6 ,Pin TO-5,SOT-23, SOT-24, SOT-25, SOT-26,D-PAK,TO-252,SOT-89
          TO-243,D2-PAK,SOT-223,TO-261,SMA,SMB,SMC,MELF

          美國STI半導(dǎo)體測(cè)試儀
          multiple 測(cè)試適配器測(cè)試范圍 30A/1200V multiple器件,光耦,邏輯器件,IGBT模塊,
          Z多支持24腳;
          multiple 測(cè)試適配器 產(chǎn)品信息

          ADP401A-16multiple 測(cè)試適配器

          測(cè)試范圍 30A/1200V multiple器件,光耦,邏輯器件,IGBT模塊,
          zui多支持24腳;

          The Pin Programmable Scanner is
          used for testing multiple devices,
          mixed pin packages, opto-couplers,
          opto-logic, and other similar devices.
          Any input (drive / sense) can be
          programmed to any of 8 or 16 output
          pins. A personality module contains
          a socket for a specified package
          type. The pins of the package can
          be connected to any of the input
          drives for a given test step.
          Bias supplies can be added.

          關(guān)鍵詞:IGBT
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