絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)

評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象

 華測儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)產(chǎn)品介紹：

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時間的測試（1~1000小時可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

華測儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)應(yīng)用領(lǐng)域：

封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；

電子材料：印BGA、CSP等精細節(jié)距IC封裝件；

有機半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；

電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；

絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。

技術(shù)參數(shù)：

測量電壓：100~1500V（可定制）

測試通道：128通道（可定制至高960通道）

測試時長：可連續(xù)運行1500小時

測試溫度：85℃（可定制）

測試濕度：85%（可定制）

測量范圍：1×105~1×1015Ω

極化電壓：100~1500V（可定制）

掃描周期：最快2分鐘（128通道）

恒溫試驗箱

型號：HC-80    溫度范圍：RT ~ +100℃    內(nèi)部容積（L）：80

型號：HC-512     溫度范圍：RT ~ +200℃   內(nèi)部容積（L）：512

迷你高低溫環(huán)境箱

型號：HC-35   溫度范圍：-40 ~ +100℃   內(nèi)部容積（L）：35

型號：HC-70   溫度范圍：-70 ~ +200℃  內(nèi)部容積（L）：70