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          TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地廣州市
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時間2024/9/24 9:20:29
          • 訪問次數(shù)207
          產(chǎn)品標(biāo)簽:

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          廣州標(biāo)旗光電科技發(fā)展股份有限公司成立于2005年,位于國家*產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)廣州科學(xué)城。在光譜快速檢測領(lǐng)域深耕10年,熟悉各種光譜快速檢測方案的搭建,為化工、光電、材料、農(nóng)學(xué)、生物等不同領(lǐng)域的客戶提供了上百種檢測方案,2014年被認定為*。公司擁有強大的研發(fā)、銷售團隊,擁有*的創(chuàng)新能力,2015年榮獲廣州開發(fā)區(qū)“瞪羚企業(yè)”稱號,2016年成功認定為廣州市研發(fā)機構(gòu),2016年順利通過ISO 9001:2015質(zhì)量管理體系認證。
          標(biāo)旗在“科技創(chuàng)新,真誠服務(wù)”的企業(yè)核心價值觀的下,不斷創(chuàng)新和發(fā)展,形成集算法開發(fā)、軟件開發(fā)、硬件開發(fā)、光路設(shè)計及電路設(shè)計為一體的研發(fā)體系,標(biāo)旗團隊基于光纖光譜儀的應(yīng)用,開發(fā)了不同應(yīng)用領(lǐng)域的光譜快速檢測儀器,不斷沉淀與打造自主品牌——科思凱(Qspec)。目前,標(biāo)旗已擁有一系列具有核心競爭力的科思凱產(chǎn)品,包括:平面光學(xué)元件光譜分析儀、球面光學(xué)元件顯微檢測儀、透過率檢測儀、珠寶檢測儀、近紅外光譜檢測儀、全光譜層析掃描儀、非接觸光學(xué)測厚儀、微量紫外分光光度計、物質(zhì)分析儀和高功率鹵素冷光源等。標(biāo)旗科思凱系列產(chǎn)品儀器優(yōu)勢顯著,具有高效、迅速、準(zhǔn)確的特點,將“中國創(chuàng)造”的研發(fā)理念與攻關(guān)思路融入到每項產(chǎn)品的開發(fā)中,實現(xiàn)產(chǎn)品應(yīng)用與科技進步、市場需求緊密結(jié)合,不斷突破傳統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)產(chǎn)業(yè)升級改造,實現(xiàn)理論研究與生產(chǎn)應(yīng)用的轉(zhuǎn)化,真正將創(chuàng)造力作為公司不斷向前發(fā)展的核心動力,將中國創(chuàng)造內(nèi)化于企業(yè)發(fā)展中。

          同時,標(biāo)旗也是許多科技裝備企業(yè)在國內(nèi)的*的代理商和經(jīng)銷商,包括:Ocean Optics光纖光譜儀(華南區(qū)總代理),PerkinElmer分析儀器、P&P成像光譜儀。

          標(biāo)旗秉承專業(yè)、真誠、貼心的服務(wù)宗旨,針對客戶的需求,量身定制光譜檢測應(yīng)用方案,幫助客戶解決科研和生產(chǎn)中的實際問題,全程提供售前、售中和售后服務(wù)。標(biāo)旗的成長離不開客戶的支持,目前,公司積累了豐富的技術(shù)和客戶資源,積極與高校合作,致力于產(chǎn)學(xué)研的成長模式;而且努力為同行業(yè)者搭建線上和線下交流平臺,向客戶學(xué)習(xí),更好的服務(wù)于客戶。

          科技的發(fā)展日新月異,標(biāo)旗緊跟科技進步與時代發(fā)展的步伐,在光譜快速檢測道路上不斷前行,臻于至善。

          光纖光譜儀,拉曼光譜儀,近紅外光譜儀,反射率測試儀
          TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)
          TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀) 產(chǎn)品信息

          TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)

           

           

          TMS是一套全波長的透過率測量儀(ir透過率測量儀),能快速準(zhǔn)確地測量各類平面、球面、非球面等光學(xué)元件的相/透射率,可用于實時顯示單、多點波長透過率數(shù)據(jù)及波段平均透過率數(shù)據(jù)。適用于手機蓋板IR孔、棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面、球面非球面光學(xué)元件及組合鏡頭等的檢測。紫外透過率測量儀專為檢測樣品紫外波段透過率設(shè)計。

           

          紫外透過率測量儀

           

          顯微透過率測量儀基于普通透過率測量儀的測試原理,增加顯微光路和成像CCD對測試區(qū)域進行精確定位,用小尺寸光斑(0.3mm)測試樣品微小區(qū)域的相/透射率。除了可對玻璃、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的透過率檢測之外,特別適用于手機蓋板IR孔、菜單鍵、返回鍵等微小區(qū)域的透過率檢測。

           

          TMS透過率測量儀(ir透過率測量儀)-技術(shù)參數(shù)

          型號

          TMSI型)

          TMS型)

          TMSIII型)

          探測器

          Sony線形CCD 陣列

          Hamamatsu背照2D-CCD

          Hamamatsu2D-CCD

          檢測范圍

          380-1000nm

          (紫外:200-850nm)

          380-1100nm

          (紫外:200-1100nm)

          360-1100nm

          (紫外:225-1000nm)

          信噪比(全信號)

          2501

          450:1

          10001

          相對檢測誤差

          0.6%410-900nm

          0.4%410-1000nm

          0.2%410-1000nm

          檢出限

          0.1%

          0.05%

          0.01%

          單次測量時間

          1s

          CCD制冷

          未制冷

          未制冷

          -20

          樣品尺寸

          ≥ Φ1.5mm (顯微:0.8nm)

          光斑

          可調(diào),≥ Φ0.6mm(顯微≥ Φ0.3mm

          操作系統(tǒng)/接口

          Windows XP, Windows Vista/ USB2.0

          電源/功率

          220V-50HZ /6W

           

          TMS透過率測量儀-的軟件設(shè)計

          l        智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度,實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),自動調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍,高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

          l        譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖,批量保存測量結(jié)果,記錄譜圖測試積分時間,能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作,地方便了譜圖的管理和分析。

          l        自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案,同時設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn),使檢測更快速,結(jié)果更準(zhǔn)確。

          l        譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果,用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除,還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。

          l        CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù), x,y,L,a,b,飽和度,主波長等。

          l        數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖,自定義測量報告出具單位名稱。

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