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          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)

          參考價(jià) 45444
          訂貨量 ≥1
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
          • 品       牌華測(cè)
          • 型       號(hào)HTDM-10
          • 所  在  地北京市
          • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
          • 更新時(shí)間2024/10/28 9:18:21
          • 訪問次數(shù)818
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                        北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司( 簡(jiǎn)稱: 華測(cè)儀器) 為高新技術(shù)企業(yè),專注于絕緣材料與先進(jìn)功能新材料電性能檢測(cè)以及材料電學(xué)測(cè)控設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和服務(wù),目前公司產(chǎn)品已應(yīng)用于全國(guó)二十多個(gè)省、市、自治區(qū)。
              公司有功能材料、電氣絕緣材料兩個(gè)電學(xué)試驗(yàn)室;涉及材料測(cè)試儀器、器件的放大、調(diào)理、采集、控制;傳感器性能綜合評(píng)價(jià)等相關(guān)儀器。
              產(chǎn)品系列:功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。







          先進(jìn)功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)、絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)、高低溫介電溫譜測(cè)試儀、極化裝置與電源、高壓放大器、PVDV薄膜極化、高低溫冷熱臺(tái)、鐵電壓電熱釋電測(cè)試儀、絕緣材料電學(xué)性能綜合測(cè)試平臺(tái)、電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀、耐電弧試驗(yàn)儀、高壓漏電起痕測(cè)試儀、沖擊電壓試驗(yàn)儀、儲(chǔ)能材料電學(xué)測(cè)控系統(tǒng)、壓電傳感器測(cè)控系統(tǒng)。
          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng),主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms、高速I/O 輸出控制。
          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

          多通道介電測(cè)試系統(tǒng)

          型號(hào):HTDM-10

          多通道介電測(cè)試系統(tǒng)主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms高速I/O 輸出控制。

          基于 IM3570 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測(cè)試系統(tǒng)  

          (發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn),與 LCR 多路測(cè)試軟件 CN040 組合,可用于多通道介電與電阻測(cè)量,也可適用于電子零件和傳感器的研究開發(fā)。)

          PC 軟件

          LCR 多路測(cè)試軟件

          掃描、比較器

          針對(duì)所有通道設(shè)置測(cè)試條件(量程、頻率、比較器等)可某個(gè)通道的 ON OFF

          可循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試

          同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件

          OPEN&SHORT 補(bǔ)償

          可對(duì)應(yīng)各通道的開短路補(bǔ)償

          如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間,在軟件內(nèi)進(jìn)行了開短路補(bǔ)償計(jì)算,可維持高速的掃描時(shí)間

          數(shù)據(jù)保存

          掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存


          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)



          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)

          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)

          半導(dǎo)體封裝材料多通道介電測(cè)試系統(tǒng)


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