四探針直流低電阻測(cè)試儀 (產(chǎn)品型號(hào):KV-FPB-SP02)
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì),使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試,需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購(gòu)前可咨詢(xún)我們。
四探針頭類(lèi)型:直線(xiàn)四探針
四探針頭探針材質(zhì):磷銅
四探針頭探針間距:2mm
四探針直流低電阻測(cè)試儀 (產(chǎn)品型號(hào):KV-FPB-SP02)
Four-Point Probe Resistance Tester (DC)
本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì),使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試,需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購(gòu)前可咨詢(xún)我們。
四探針頭類(lèi)型:直線(xiàn)四探針
四探針頭探針材質(zhì):磷銅
四探針頭探針間距:2mm