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          四探針直流低電阻測(cè)試儀KV-FPB-SP02

          參考價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱(chēng)珠海凱為儀器設(shè)備有限公司
          • 品       牌
          • 型       號(hào)
          • 所  在  地珠海市
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時(shí)間2024/7/8 12:19:21
          • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù)142
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          珠海凱為儀器設(shè)備有限公司成立于2015年7月,是從珠海凱為光電科技有限公司原有的儀器設(shè)備類(lèi)產(chǎn)品業(yè)務(wù)中拆分出來(lái)、重新整合組建。公司目前主要負(fù)責(zé)珠海凱為儀器設(shè)備類(lèi)產(chǎn)的設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)、組裝生產(chǎn)及銷(xiāo)售工作。 珠海凱為自成立以來(lái),就一直注重新產(chǎn)品及技術(shù)的研究開(kāi)發(fā)。珠海凱為自主研發(fā)設(shè)計(jì)的多款實(shí)驗(yàn)室儀器設(shè)備,如電致變色器件循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)、實(shí)驗(yàn)室用玻璃切割器、實(shí)驗(yàn)室用紫外固化器(實(shí)用新型,號(hào):ZL 2013 2 0708637.7,申請(qǐng)主體:珠海凱為光電科技有限公司)、實(shí)驗(yàn)室用狹縫器件真空灌裝器(實(shí)用新型,號(hào):ZL 2018 2 0903764.5)、實(shí)驗(yàn)室用高精度絲印臺(tái)(實(shí)用新型,號(hào):ZL 2019 2 1742267.2)、四探針直流低電阻測(cè)試儀、實(shí)驗(yàn)室用懸臂式點(diǎn)膠機(jī)、自動(dòng)薄玻璃切割-大面積點(diǎn)膠一體機(jī)、涂布器(實(shí)驗(yàn)室用可調(diào)平式涂布臺(tái),實(shí)用新型,號(hào):ZL 2019 2 1613579.3)等,已經(jīng)在國(guó)內(nèi)外(包括港澳臺(tái)地區(qū))高校、研究所和企業(yè)研發(fā)中心的數(shù)千個(gè)實(shí)驗(yàn)室得到應(yīng)用。其中部分產(chǎn)品已經(jīng)被國(guó)內(nèi)多所高校實(shí)驗(yàn)室用作相關(guān)實(shí)驗(yàn)教學(xué)課程用儀器。 珠海凱為儀器致力于為科研實(shí)驗(yàn)室提供優(yōu)質(zhì)、實(shí)用、高性?xún)r(jià)比的儀器設(shè)備產(chǎn)品。發(fā)現(xiàn)、引入、改進(jìn)、創(chuàng)新,是我們的工作。注重產(chǎn)品質(zhì)量和服務(wù),是我們一直堅(jiān)持的經(jīng)營(yíng)理念。
          四探針電阻率測(cè)試儀
          本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì),使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試,需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購(gòu)前可咨詢(xún)我們。
          四探針直流低電阻測(cè)試儀KV-FPB-SP02 產(chǎn)品信息

          四探針直流低電阻測(cè)試儀  (產(chǎn)品型號(hào):KV-FPB-SP02)

          Four-Point Probe Resistance Tester (DC)


                本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì),使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試,需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購(gòu)前可咨詢(xún)我們。


          四探針頭類(lèi)型:直線(xiàn)四探針

          四探針頭探針材質(zhì):磷銅

          四探針頭探針間距:2mm



          四探針直流低電阻測(cè)試儀  (產(chǎn)品型號(hào):KV-FPB-SP02)

          Four-Point Probe Resistance Tester (DC)


                本測(cè)試儀由珠海凱為配套設(shè)計(jì),使用大探針頭,增加探針和樣品之間的接觸面,適合實(shí)驗(yàn)室用于導(dǎo)電高分子膜層、表面粗糙的硅片的測(cè)試,需要用來(lái)測(cè)試硅片、納米銀膜、石墨烯膜、碳漿膜等材料的阻值的,訂購(gòu)前可咨詢(xún)我們。


          四探針頭類(lèi)型:直線(xiàn)四探針

          四探針頭探針材質(zhì):磷銅

          四探針頭探針間距:2mm



          關(guān)鍵詞:電阻測(cè)試儀
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