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          LLH-SS-P 相移剪切電子散斑干涉儀

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱蘇州利力升光電科技有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地蘇州市
          • 廠商性質其他
          • 更新時間2024/6/6 11:31:00
          • 訪問次數(shù)166
          產(chǎn)品標簽:

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          蘇州利力升光電科技有限公司是集研發(fā)、制造于一體的公司。產(chǎn)品涉及光電儀器、光測力學實驗室、光彈性力學實驗室、三維數(shù)字全場光測力學實驗室等幾個部分,主要產(chǎn)品包括LED數(shù)碼光彈儀、多功能光測力學系統(tǒng)、一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀、一維離面位移相移電子散斑干涉儀、相移剪切電子散斑干涉儀、相移柵線投影測量儀、三維相移電子散斑干涉儀、三維形貌測量系統(tǒng)、三維云紋干涉儀等。產(chǎn)品被美國奧克蘭大學、新加坡南洋理工大學、清華大學、中國科技大學、大學、國防科大、北京航空航天大學、東南大學、中山大學、西安交通大學、武漢大學、天津大學、中南大學、首都醫(yī)科大學、南京航空航天大學、南方科技大學,西北工業(yè)大學、蘭州大學、河海大學等院校所采用,為他們的教學和科研提供了新的研究手段,增加了新的研究方向。公司常年聘用國內(nèi)、外高校和科研院所的多位專家教授作為公司的技術顧問,不斷進行新產(chǎn)品的研制開發(fā)。僅光彈儀就形成了4種不同規(guī)格近10個型號系列,滿足各種不同的需求。此外公司的主要產(chǎn)品也從光測力學實驗室演示向應用方向推進。為國家某光機所定制的一維離面位移相移電子散斑干涉儀已投入其新型復合材料研發(fā)的變形測量。多尺度二維數(shù)字散斑相關測量系統(tǒng)應用于某高校試驗機試件的拉伸變形研究。與北京大學合作研制的瞬時電子散斑微變形測量裝置應用于高速旋轉微變形測量。我公司擁有相關產(chǎn)品十多余項,目前在國內(nèi)同行業(yè)中處于地位。
          干涉儀
          剪切電子散斑干涉術是一種測量離面位移導數(shù)場的激光干涉測量新技術。除了電子散斑干涉術(ESPI,Electronic Speckle Pattern Interferometry)的許多優(yōu)點外,還有光路簡單,對測量環(huán)境要求低等特點。由于剪切電子散斑干涉是測量位移導數(shù),因此,在自動消除剛體位移的同時對于缺陷受載的應變集中十分靈敏。因此被廣泛地應用于無損檢測(NDT,nondestructive tes......
          LLH-SS-P 相移剪切電子散斑干涉儀 產(chǎn)品信息

          主要技術指標∶

          1.光源∶半導體激光器,功率20mW,波長532nm    

          2.定焦鏡頭∶C接口,配進口25mm定焦鏡頭

          3.相機∶1280×1024 USB攝像頭

          4.工作距離∶400~1000mm

          5.光學平臺∶1200mm X800mm 

          6.圖像采集分辨率∶1280×1024 

          7.剪切角∶0° ±5°連續(xù)可調

          8.軟件∶ 條紋實時顯示,圖像處理

          9.演示試件∶圓盤受均布載荷

          10.條紋分辨率∶1/20級條紋(13.3nm)


          主要配置∶

          主機∶ 1臺

          25mm定焦鏡頭∶1個

          20mW半導體激光器∶1臺

          1200mmX800mm 光學平臺:1套

          相移控制器∶1套

          圓盤受均布載荷試件∶1套

          電腦∶1臺

          圖像采集及處理軟件∶1套


            原理示意:

            剪切散斑的基本原理是散斑照相和剪切機理的結合,它是在散斑照相的基礎上,通過不同的錯位元件,把單光束散斑變?yōu)殡p光束散斑,因而它具有雙光束散斑的特性,即原始波面與錯位的波面之間將產(chǎn)生干涉。

            離面位移梯度測量原理如圖2所示,物體A的散斑場經(jīng)過小剪切棱鏡、偏振片和CCD的物鏡,在CCD攝像機的靶面上形成兩幅錯位量為Δ的像,并在CCD靶面上相干涉。

            

            使用方法:

            用均勻的白光作為光源照射在被測物表面,為了便于觀察,可將標定紙(圖示帶有“十”字的卡片)貼在被測物表面,在計算機顯示屏上觀察并同時調節(jié)物距使成像清晰,如圖示在錯位棱鏡的光路中十字形錯開成兩個像。

            將白光光源關閉,打開激光器電源使得其出光。調節(jié)擴束鏡,使光均勻擴散在試件表面,將貼在試件上的標定紙拿下,分別采集變形前后干涉圖像并實時相減,即可獲得全場離面位移導數(shù)圖像。

            



            實驗案例:鋁蜂窩板激光散斑檢測實驗

            本次實驗用的蜂窩板是鋁蜂窩板,先后買了厚度為17.45mm和8.5mm的蜂窩板,14.5mm厚的鋁蜂窩板尺寸大小為:長(150mm);寬(100mm),外邊已鑲好。8.5mm厚的鋁蜂窩板尺寸大小為:長(250mm);寬(200mm),外邊未鑲。如圖:

            


            實驗步驟:

            1.調整儀器設備至正常工作狀態(tài);

            2.將蜂窩夾芯板固定在實驗臺上,激光器發(fā)出的激光經(jīng)擴束鏡擴束后完整覆蓋夾芯板,調整剪切散斑位置,使CCD視野清晰并完整覆蓋夾芯板;

            3.采用熱加載的方式,熱源為大功率電吹風,加熱使蜂窩板產(chǎn)生離面微變形;

            4.在室溫下自然冷卻,冷卻過程中采集散斑干涉條紋圖。

            實驗結果及分析

            1、14.5mm厚鋁蜂窩板實驗結果

            

            可以看出,缺陷部位并沒有被測試出來。由此可分析可能由于此蜂窩板太厚,或蜂窩紙與鋁板連接的膠水太薄,導致即使去除了蜂窩紙與鋁板的連接,影響結果也不是很大。故實驗結果不明顯。

            2、8.5mm厚鋁蜂窩板實驗結果

            (1)在圖示部位給蜂窩板制造出長為33mm的缺陷,測得的圖形為:

            

            (2)在圖示部位給蜂窩板制造出48mm的缺陷,測得的圖形為:


            經(jīng)過這兩種試驗結果的對比,對于厚度較薄的蜂窩板,實驗效果明顯可見。

            注:要想能夠順利檢測出待測物的缺陷,要滿足加載后(機械、熱、高音頻或真空加載)材料不僅能夠產(chǎn)生離面位移,而且缺陷兩側材料要能夠產(chǎn)生不同的程度地離面位移,才能檢測出缺陷的部位,大小。

            應用范圍

            一般表面變形測量;離面位移測量;面內(nèi)應變測量;殘余應力測量;缺陷檢測;密封情況評估;氣體泄漏探測……



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