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CAF絕緣電阻劣化HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱

絕緣電阻劣化評(píng)估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓，經(jīng)過長時(shí)間的測試(1~1000小時(shí))并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值變化狀況，故又叫做CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱為絕緣劣化試驗(yàn)，可進(jìn)行BHAST試驗(yàn)。在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。CAF是指印制線路板內(nèi)部在電場作用下跨越非金屬基材而遷移傳輸?shù)膶?dǎo)電性金屬鹽構(gòu)成的電化學(xué)遷移。它通常發(fā)生在印制線路板基材中沿玻璃纖維到樹脂的界面上，從而導(dǎo)致兩個(gè)相鄰的導(dǎo)體之間絕緣性能下降甚至造成短路，是印制線路板產(chǎn)生電氣故障的一個(gè)重大而且具有潛在危險(xiǎn)的根源。

CAF絕緣電阻劣化HAST高加速老化壽命試驗(yàn)箱

應(yīng)用：PCB、焊料、助焊劑、涂層材料等，GBA、DSP等，IC封裝、電容器、連接器等電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評(píng)估。

特點(diǎn)：

·高機(jī)能:采用驅(qū)動(dòng)計(jì)測測試時(shí)焊接工序大幅減少軟件設(shè)計(jì)簡單明了，直觀易操N遠(yuǎn)程監(jiān)控功能，可監(jiān)控試驗(yàn)過程。

·便利性高:構(gòu)造裝著脫落式易進(jìn)行保養(yǎng)交換。可同時(shí)試驗(yàn)停止等聯(lián)動(dòng)裝置功能，系統(tǒng)構(gòu)成靈活。

·測試自檢功能:點(diǎn)檢、校正方便。

·設(shè)計(jì)精巧，不受場所限制，易移動(dòng)。

·可靠性高:配有CF卡，以防設(shè)備故障數(shù)據(jù)丟失。以UPS作為系統(tǒng)的支撐，保證試驗(yàn)的安全繼續(xù)進(jìn)行。

隨著電子設(shè)備在智能化的方向及小型化、輕量化迅速發(fā)展，印制線路板的線路也越來越細(xì)，間距越來越小，絕緣層越來越薄，鉆孔尺寸也向更小更密的方向發(fā)展，并且由于信息傳輸速度的提升，使得印制板所承受的工作溫度也在不斷地上升。因此，在印制線路板的質(zhì)量與可靠性測試中，CAF的測試也就變得越來越重要。

可與zonglen HAST高加速老化試驗(yàn)箱配合使用，主要用于產(chǎn)品導(dǎo)通電阻性能驗(yàn)證。更好的保證您PCB檢測的精度和可靠性。