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VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)

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公司名稱北京費(fèi)恩科技有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/4/16 14:26:45
訪問次數(shù)62

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北京費(fèi)恩科技有限公司位于北京經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)，是一家從事專業(yè)光電精密測量測試設(shè)備的代理商。產(chǎn)品源于美國、波蘭、意大利等，涵蓋了精密測量設(shè)備、成像系統(tǒng)測試設(shè)備及模塊、診斷工具等，可提供高精度的測厚設(shè)備、紫外到遠(yuǎn)紅外整個波段的成像測試系統(tǒng)、紅外測量系統(tǒng)和探測器、夏克-哈特曼波前傳感器等。我們的用戶覆蓋了各高校、科研院所、航空航天、各類光電企業(yè)等不同領(lǐng)域。費(fèi)恩科技擁有專業(yè)的技術(shù)團(tuán)隊(duì)，不僅為用戶提供各類標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品，還可根據(jù)用戶的具體需求，提供完整的系統(tǒng)解決方案。同時(shí)，我們還擁有優(yōu)秀的售后技術(shù)支持團(tuán)隊(duì)，可及時(shí)為用戶提供售后服務(wù)，包括安裝、調(diào)試、培訓(xùn)、技術(shù)指導(dǎo)等工作。費(fèi)恩科技秉承“一、客戶至上、服務(wù)為先”的經(jīng)營理念，帶領(lǐng)專業(yè)技術(shù)團(tuán)隊(duì)，為廣大用戶提供各類光電檢測設(shè)備及解決方案，用心開拓國內(nèi)市場，為光電檢測行業(yè)帶來的技術(shù)和服務(wù)。

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產(chǎn)品介紹VIT測試系統(tǒng)外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統(tǒng)，支持成像探測器所有重要參數(shù)的測試

VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

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VIT測試系統(tǒng)外形圖

VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統(tǒng)是一個可擴(kuò)展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs 成像探測器的測試系統(tǒng)，支持成像探測器所有重要參數(shù)的測試。

VIT測試系統(tǒng)是一個模塊化的測試系統(tǒng)，由以下五個部分組成：雙圖像投影通道，一組圖像采集卡，及，測試軟件和可選的測試原始芯片用的CON控制模塊。雙圖像投影通道是VIT測試系統(tǒng)的核心模塊，包括輻射通道和成像通道。

VIT測試系統(tǒng)提供了一組傳統(tǒng)參數(shù)的測量，這些參數(shù)通常用于表征紅外焦平面/熱成像核心的性能。另外也提供成像傳感器和相機(jī)的EMVA1288標(biāo)準(zhǔn)推薦的性能參數(shù)測試。

一般測試功能：

1. 輻射參數(shù)：相對光譜靈敏度、比探測率D*、量子效率QE、靈敏度、動態(tài)范圍、線性度、NEI、FPN固定圖形噪聲、非均勻性、信噪比、壞像素?cái)?shù)、3D噪聲?？梢詼y量16個不同波長下的情況。

2. 成像參數(shù)：調(diào)制傳遞函數(shù)MTF、分辨率、最小可分辨對比度、串?dāng)_、高光溢出Blooming、視場。

EMVA1288測試功能：量子效率，增益，時(shí)間暗噪聲，DSNU1288，信噪比，PRNU1288，LE非線性，靈敏度閾值，飽和容量，動態(tài)范圍，暗電流，相對光譜靈敏度。

產(chǎn)品參數(shù)

表1 用于定義VIT測試系統(tǒng)版本的兩位數(shù)編號

編號	A列：已封裝傳感器	B列：電子控制模塊支持的被測件
1	VIS-NIR傳感器	相機(jī)核心
2	InGaAs傳感器	相機(jī)核心和最多兩個原始傳感器
3	VIS-NIR傳感器和InGaAs 傳感器	相機(jī)芯和多個原始傳感器