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ST 短波紅外相機測試系統(tǒng)

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公司名稱聯(lián)景光電科技（北京）有限公司
品牌
型號
所在地北京市
廠商性質(zhì)其他
更新時間2024/3/24 17:44:17
訪問次數(shù)194

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聯(lián)景光電科技（北京）有限公司（下稱“聯(lián)景光電”）主營業(yè)務(wù)涵蓋光學(xué)儀器和電子測試儀器。光學(xué)儀器包含光學(xué)測試系統(tǒng)、光學(xué)鏡片制造設(shè)備，同時也為用戶提供光學(xué)設(shè)計，定制配件。光學(xué)測試系統(tǒng)對鏡片、鏡頭、平面光學(xué)元件的測量項目：有效焦距測量、球面鏡的曲率半徑測量、單鏡片與鏡頭組的中心偏差測量、鏡片厚度與鏡面間隔測量、角度測量、表面疵病檢測、面型測量、折射率測量、成像質(zhì)量測量和波前測量。光學(xué)測試系統(tǒng)可以檢測的光學(xué)設(shè)備：熱像儀、可見光-近紅外相機、短波紅外相機、紫外相機、多光譜成像儀、多傳感器、夜視設(shè)備和激光設(shè)備等。光學(xué)配件包含：透鏡、反射鏡、棱鏡、分光元件、光學(xué)窗口等光學(xué)元件；光源、光譜、光學(xué)平臺、精密位移臺、黑體、平行光管、靶標等。聯(lián)景光電在電子測量領(lǐng)域主要為客戶提供示波器，信號源，半導(dǎo)體測試設(shè)備，頻譜儀、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、電流探頭和環(huán)路分析儀。

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產(chǎn)品詳情更多ST測試系統(tǒng)一般是一個可變目標測量系統(tǒng)，它使用一系列不同的目標來將圖像投射到經(jīng)過測試的SWIR成像器的方向上

ST 短波紅外相機測試系統(tǒng) 產(chǎn)品信息

ST測試系統(tǒng)一般是一個可變目標測量系統(tǒng)，它使用一系列不同的目標來將圖像投射到經(jīng)過測試的SWIR成像器的

方向上。成像器生成投影圖像的扭曲副本。成像器生成的圖像質(zhì)量由人類觀察者或軟件評估，并測量SWIR成像器的

重要特征。ST測試系統(tǒng)由反射離軸直準器、寬帶光源、中溫黑體、電動旋轉(zhuǎn)輪、一組目標、一組濾波器、PC、幀抓

取器和測試軟件組成。

技術(shù)指標

平行光管		光源
平行光管類型	反射式，離軸	口徑	40mm
口徑	100mm到200mm	光源類型	雙光源模式：1）多色鹵素燈2）單色LED
焦距	根據(jù)型號	鹵素燈光譜范圍	400-2200 nm
光譜范圍	0.4-15μm	鹵素燈色溫	2856K在450-1700nm范圍
空間分辨率	不低于160 lp/mrad	鹵素燈動態(tài)范圍	0.02mcd/m2 - 3000cd/m2
鍍膜	拋物鏡-鋁，平面反射鏡-金	鹵素燈調(diào)節(jié)模式	光機調(diào)節(jié)，連續(xù)可調(diào)
視場	根據(jù)型號	LED波長	1060nm
旋轉(zhuǎn)靶輪		LED動態(tài)范圍	10000:1
型號	MRW-8	黑體
靶孔數(shù)	8	孔徑	50mm
控制類型	電動，數(shù)字	溫度范圍	50°C到600°C
靶輪		溫度不確定性	<0.005×T
直徑	54mm （靶孔）	設(shè)置時間	<30min
反射式靶標	—組USAF靶標，視場/畸變靶標，刀口靶標	調(diào)節(jié)分辨率/穩(wěn)定性	0.01°C/0.05°C
輻射式靶標	一組4桿靶標，一組8個圓孔靶標，視場/畸變靶標，紅外刀口靶標	電腦控制	RS-232(USB 2.0)
輻射式靶標	一組4桿靶標，一組8個圓孔靶標，視場/畸變靶標，紅外刀口靶標	電源	115-230VAC 50/60Hz