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PHASICS波前分析儀/波前探測(cè)器/剪切干涉儀

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公司名稱上海瞬渺光電技術(shù)有限公司
品牌
型號(hào)
所在地上海市
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2024/2/18 8:14:24
訪問次數(shù)153

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上海瞬渺光電技術(shù)有限公司成立于2004年,坐落于航天科技城--上海莘莊工業(yè)園區(qū).主要從事國際品牌激光、光電子、光機(jī)械、光學(xué)儀器和光纖通訊等光電產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、引進(jìn)、咨詢和經(jīng)銷。團(tuán)隊(duì)的核心成員具有10年以上的激光光電子領(lǐng)域工作經(jīng)驗(yàn)，早在2005年我們就開始立足為客戶提供專業(yè)級(jí)光電實(shí)驗(yàn)室解決方案,公司有多名來自高校研究所的技術(shù)中堅(jiān)，加之具有多年豐富商務(wù)經(jīng)驗(yàn)的銷售,采購,財(cái)務(wù)人員.我們堅(jiān)信我們的服務(wù)能讓光電領(lǐng)域的科研人員滿意.經(jīng)過數(shù)年的勤奮創(chuàng)新,目前已經(jīng)成為大的光電產(chǎn)品一站式服務(wù)供應(yīng)商之一.

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PHASICS波前分析儀/波前探測(cè)器/剪切干涉儀

PHASICS波前分析儀/波前探測(cè)器/剪切干涉儀產(chǎn)品信息

PHASICS波前分析儀/波前探測(cè)器/剪切干涉儀

法國PHASICS公司自主研發(fā)的波前傳感器是基于四波橫向剪切干涉技術(shù)。SID4系列波前分析儀相較傳統(tǒng)的夏克-哈特曼波前探測(cè)器具有高分辨率、消色差、高靈敏度、高動(dòng)態(tài)檢測(cè)范圍、操作簡(jiǎn)便等的優(yōu)勢(shì)。為波前像差、波前畸變的檢測(cè)以及激光光束及波前的測(cè)量、分析，眼科虹膜定位波前像差引導(dǎo)等提供了全新的解決方案！

PHASICS波前探測(cè)器配套的軟件界面友好，可直觀的輸出高分辨率相位圖和光束強(qiáng)度分布圖。

1、技術(shù)特點(diǎn) （法國PHASICS波前分析儀）

◆高分辨率（高達(dá)300 x400個(gè)采樣點(diǎn)) ◆消色差 ◆高動(dòng)態(tài)范圍 ◆高靈敏度 ◆操作簡(jiǎn)便 ◆設(shè)計(jì)簡(jiǎn)潔緊湊

2、技術(shù)優(yōu)勢(shì)（法國PHASICS波前分析儀）

◆高分辨率的相位圖能夠提供高分辨率的相位圖。標(biāo)準(zhǔn)分辨率為160ｘ120個(gè)采樣點(diǎn)，分辨率可達(dá)400ｘ300。高分辨率的探測(cè)器能精確測(cè)量鏡片像差，并能做到較高的測(cè)量重復(fù)性。

◆具有直接測(cè)量高發(fā)散光束的能力我們的波前探測(cè)技術(shù)具有直接測(cè)量光路系統(tǒng)相差的能力，并且無需額外的過渡鏡。

◆消色差SID4探測(cè)器能夠匹配CCD整個(gè)探測(cè)范圍，用于不同波長(zhǎng)光而無需額外校準(zhǔn)，也能用于多色光源。

◆對(duì)準(zhǔn)方便SID4探測(cè)器無需精確的，很繁冗的校準(zhǔn)步驟，分析算法為校準(zhǔn)波前探測(cè)器提供便利。

◆符合人體工程學(xué)原理設(shè)計(jì)緊湊的SID4探測(cè)器配置了電腦和專用KALEO軟件，其友好的人機(jī)界面使光學(xué)測(cè)量過程更符合人體工程學(xué)原理。

◆光學(xué)測(cè)量專用的KALEO軟件SID4探測(cè)器為光學(xué)測(cè)量配置了專用的Kaleo軟件。該軟件允許在一次測(cè)量中提供完整的測(cè)量項(xiàng)目的光學(xué)量值特征：相差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征報(bào)告也可編輯。

3、SID4&SID4-HR參數(shù)說明（法國PHASICS波前分析儀）

型號(hào)	SID4 UV-HR	SID4	SID4 HR	SID4 NIR	SID4 SWIR	SID4 IR-MCT	SID4 DWIR	SID4 LWIR
波長(zhǎng)	190 – 400 nm	400 – 1100 nm	400 – 1100 nm	1,5 – 1,6 µm	0,4 – 1,7 µm	1,2 – 5,5 µm	3 – 5 µm and 8 – 14 µm	8 – 14 µm
孔徑	8.0 × 8.0 mm2	3.6 × 4.8 mm2	8.9 × 11.8 mm2	3.6 × 4.8 mm2	9.6 × 7.68 mm2	9.60 x 7.68 mm2	10.08 ×8.16mm2	16 x 12 mm2
空間分辨率	32 µm	29,6 µm	29,6 µm	29,6 µm	60 µm	60 µm	68 µm	100 µm
采樣點(diǎn)	250 x 250	160 x 120	300 x 400	160 x 120	160 x 128	160 x 128	160 x 120	160 x 120
精度 (精度)	10 nm RMS	10 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	75 nm RMS	75 nm RMS
分辨率（靈敏度）	0,5nm RMS	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	<11nm MS	<2 nm RMS	< 3 nm RMS	25 nm RMS	25 nm RMS
動(dòng)態(tài)范圍	> 200 µm	> 100 µm	> 500 µm	> 100 µm	> 100 µm	300 µm	> 100 µm	> 100 µm
采樣頻率	30 fps	> 100 fps	> 30 fps	60 fps	120 fps	140 fps	> 50 fps	40 fps