一、設(shè)備名稱(chēng)：顯微推拉力測(cè)試儀

　　二、設(shè)備型號(hào)：GH-8001C

　　三、產(chǎn)品說(shuō)明：

　　顯微推拉力測(cè)試儀（微焊點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試儀器）是用于微電子封裝和pcba電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專(zhuān)用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器，是微電子和電子制造領(lǐng)域的重要儀器設(shè)備。可自動(dòng)完成測(cè)試并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、并能顯示力-位移、力-時(shí)間的坐標(biāo)曲線參，并能保存測(cè)試數(shù)據(jù)和生成測(cè)試報(bào)表。雙顯示系統(tǒng)實(shí)時(shí)高清放大測(cè)試過(guò)程。

　　四、測(cè)試功能:

　　1、內(nèi)引線拉力測(cè)試；

　　2、微焊點(diǎn)推力測(cè)試；

　　3、芯片剪切力測(cè)試；

　　4、SMT焊接元件推力測(cè)試

　　五、技術(shù)參數(shù):

　　1.型號(hào)：GH-8001C

　　2.精度等級(jí)：0.5級(jí)；

　　3.負(fù)荷：100N，200N,500N(任選）

　　4.有效測(cè)力范圍：0.3-99%；

　　5.測(cè)力精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

　　6.試驗(yàn)力分辨率：1/500,000，且全程分辨率不變；

　　7.有效試驗(yàn)寬度：200 mm；

　　8.有效試驗(yàn)長(zhǎng)度：200 mm；

　　9.有效試驗(yàn)高度：200 mm；

　　10.測(cè)試頭配置:推力測(cè)試頭一個(gè)

　　11.試驗(yàn)速度范圍：0.01～200mm/min無(wú)級(jí)調(diào)速；

　　12.XY軸移動(dòng)速度：0.01～500mm/min無(wú)級(jí)調(diào)速；

　　13.速度精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

　　14.位移測(cè)量精度：示值的±0.5%以?xún)?nèi)；

　　15.功率：AC220V±10%1200W；

　　16.主機(jī)尺寸：650×550×1400mm(l*w*h)；

　　17.主機(jī)重量：約130kg；

*詳細(xì)技術(shù)參數(shù)請(qǐng)聯(lián)系我司索取。