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          日立 球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000

          參考價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱(chēng)思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司
          • 品       牌
          • 型       號(hào)
          • 所  在  地
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時(shí)間2023/6/6 9:28:12
          • 訪問(wèn)次數(shù)220
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          思耐達(dá)精密儀器(上海)有限公司專(zhuān)注于光學(xué)測(cè)量?jī)x器的銷(xiāo)售與服務(wù), 思耐達(dá)主要致力于為合作伙伴提供SEM掃描電子顯微鏡、AFM原子力顯微鏡、TEM透射電子顯微鏡、FIB聚焦離子束顯微鏡、共聚焦顯微鏡、3D顯微鏡、白光干涉儀、臺(tái)階膜厚測(cè)量?jī)x等光學(xué)儀器的銷(xiāo)售和相關(guān)的測(cè)量服務(wù),產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于化工、電子、半導(dǎo)體、醫(yī)療、材料、生物技術(shù)、食品以及政府單位和高??蒲性核阮I(lǐng)域。思耐達(dá)的由來(lái):誠(chéng):誠(chéng)乃思耐達(dá)人做人做事之根本,古人說(shuō):索道于當(dāng)世者,莫過(guò)于誠(chéng)!思耐達(dá)人不自欺,亦不欺人。思耐達(dá)人勇于面對(duì)自身的不足,虛心接受他人的批評(píng)與建議。敬:“敬人者,人恒敬之”,月滿則虧,物盛則衰!要想成大事,需懷敬畏之心,收斂鋒芒,尊重他人,低調(diào)做人,高調(diào)做事。思耐達(dá)人恭順帶人,充分尊重事實(shí)和每一位伙伴的每一個(gè)需求,力爭(zhēng)雙贏。靜:遇事有靜氣,泰山崩于前而不亂,沉穩(wěn)淡定,耐心應(yīng)對(duì)。思耐達(dá)人面對(duì)他人的質(zhì)疑,不亂方寸,不改初心,洞察問(wèn)題本質(zhì),坦然地為合作伙伴提供合理的解決方案。謹(jǐn):禍從口出,謹(jǐn)小慎微,凡事不張揚(yáng)。思耐達(dá)人只闡述客觀事實(shí),絕不詆毀競(jìng)爭(zhēng)品牌和對(duì)手。恒:持之不懈,意志篤定,困苦不退縮,挫敗不止步。人而無(wú)恒,終身一無(wú)所成。思耐達(dá)人定不嫌繁瑣、持之以恒為每一位合作伙伴提供全面的售前診斷和售后支持,始終如一。 思耐達(dá)——認(rèn)真地思考每位伙伴的需求,做好每個(gè)細(xì)節(jié),耐心地為每位合作伙伴提供合理的解決方案,最終達(dá)成合作共贏!品質(zhì)能通過(guò)行業(yè)考驗(yàn)企業(yè)提供的服務(wù):光學(xué)精密儀器銷(xiāo)售.售前產(chǎn)品測(cè)試.第三方測(cè)量服務(wù).售后技術(shù)支持維修.培訓(xùn)等服務(wù)。我們的宗旨&愿景企業(yè)宗旨:一切以合作伙伴的需求為中心.提供專(zhuān)業(yè)的解決方案并協(xié)助合作伙伴解決問(wèn)題。企業(yè)愿景:"但愿人長(zhǎng)久,千里共同途".服務(wù)大眾.力爭(zhēng)成為同行業(yè)優(yōu)全的光學(xué)儀器整體測(cè)量方案服務(wù)商。企業(yè)文化企業(yè)文化:“誠(chéng)、敬、靜、謹(jǐn)、恒”,五字行事準(zhǔn)則。企業(yè)團(tuán)隊(duì):現(xiàn)有行業(yè)銷(xiāo)售工程師3名,行業(yè)售前技術(shù)工程師3名,行業(yè)售后工程師3名等。
          電子掃描顯微鏡
          產(chǎn)品介紹 200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能 通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。 透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能,像差校正后的SEM圖像和對(duì)稱(chēng)Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。 對(duì)于包括......
          日立 球差場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000 產(chǎn)品信息

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          產(chǎn)品介紹:


          200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能


          通過(guò)單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。

          透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能,像差校正后的SEM圖像和對(duì)稱(chēng)Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。

          對(duì)于包括用戶在內(nèi)的廣泛用戶,我們提供亞?級(jí)空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。


          ※ 附帶第二顯示器(可選),顯示屏為嵌入式合成界面。


          產(chǎn)品特點(diǎn):


          1、標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)

          2、搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場(chǎng)FE電子槍

          3、鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升

          4、觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像

          5、采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺(tái)結(jié)構(gòu)以及樣品桿

          6、支持高立體角EDX*的對(duì)稱(chēng)配置(對(duì)稱(chēng)Dual SDD*)

          7、采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋

          8、配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*

          * 選項(xiàng)


          高輝度冷場(chǎng)FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器

          以長(zhǎng)年積累起來(lái)的高輝度冷場(chǎng)FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ),進(jìn)行優(yōu)化,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。

          此外,還更新了鏡體,電源系統(tǒng)和樣品臺(tái),以支持觀察亞?圖像,并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性,然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。

          不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭,而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正,從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。


          Si(211)單晶體HAADF-STEM圖像(左)和圖像強(qiáng)度曲線分布(右下)、FFT功率譜(右上)


          支持高立體角EDX*的對(duì)稱(chēng)Dual SDD*

          支持雙重配置100 mm2 SDD檢測(cè)器,以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。

          由于第二檢測(cè)器位于檢測(cè)器的對(duì)面位置,因此,幾乎不會(huì)因?yàn)闃悠穬A斜,導(dǎo)致X射線中的信號(hào)檢測(cè)量發(fā)生變化。所以,即使是結(jié)晶性樣品,也不用顧忌信號(hào)量,可按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。

          此外,對(duì)于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品,除了原子列映射,在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。


          GaAs(110)的原子柱EDX映射


          像差校正SEM圖像/STEM圖像 同時(shí)觀察

          配有標(biāo)配二次電子檢測(cè)器,可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過(guò)同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可以掌握樣品的三維構(gòu)造。

          在像差校正SEM圖像中,除了可以通過(guò)校正球差來(lái)提高分辨率之外,還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。



          Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像(上段)和Au粒子的高分辨率圖像(下段)


          主要規(guī)格:


          項(xiàng)目內(nèi)容
          電子源W(310)冷陰極場(chǎng)發(fā)射型
          加速電壓200 kV、60 kV*1
          圓像分辨率STEM0.078 nm(ADF-STEM圖像)
          TEM0.102 nm(晶格像)
          倍率STEM×20~×8,000,000
          TEM×100~×1,500,000
          樣品微動(dòng)樣品臺(tái)偏心測(cè)角儀(Eucentric Goniometer)5軸樣品臺(tái)
          樣品尺寸3 mm Φ
          移動(dòng)范圍X, Y=±1.0 mm,Z=±0.4 mm
          樣品傾斜α=±25°、β=±35°(日立2軸傾斜樣品桿*1)
          像差矯正器配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器(標(biāo)配)
          圖像顯示PCWindows® 7 *2
          顯示器27英寸寬屏液晶顯示器(機(jī)體控制顯示器、第二顯示器*1)
          攝像頭標(biāo)配伸縮式攝像頭
          屏幕攝像頭*1(用于熒光板觀察)


          機(jī)體尺寸/重量


          項(xiàng)目寬度×進(jìn)深×高度(mm)重量(kg)
          鏡體(含電子槍?zhuān)?/span>1060×1742×29701940
          機(jī)體外殼蓋1678×1970×3157429
          操作臺(tái)1400×819×740132
          擴(kuò)展操作臺(tái)*1580×819×74053
          FE槽1041×840×1317482
          V0槽398×630×1046164
          控制電源1400×693×816173
          像差校正器電源606×529×109681
          排氣系統(tǒng)電源913×663×1790378
          轉(zhuǎn)向系統(tǒng)電源913×663×1790394
          配重塊290×130×13023
          Gatan控制器*1*3576×648×1173150
          冷卻水控制裝置470×540×35025
          冷卻水循環(huán)裝置*1*3970×970×106495
          干式泵*1252×400×33623
          空壓機(jī)*1275×560×57625


          安裝條件


          項(xiàng)目內(nèi)容
          室溫15~23℃(溫度變化:0.2℃/h以內(nèi))
          濕度40~60%RH
          電源機(jī)體單相AC200~240 V ±10%、50/60 Hz、10 kVA
          斷路器容量 50 A
          冷卻水循環(huán)裝置*1*3三相AC200 V ±5%、50/60 Hz、30 A
          接地D種接地(100 Ω以下)
          冷卻水水量5.1~5.3 L/min 1系統(tǒng)、2.0~2.2 L/min 1系統(tǒng)
          (水壓0.25 MPa)
          水溫16~18℃(變動(dòng):±0.1℃以內(nèi))
          氣體SF699.9%以上、180 k~200 kPa
          干氮99.9%以上、0~100 kPa
          壓縮空氣600 k~800 kPa


          購(gòu)買(mǎi)之前,請(qǐng)?jiān)O(shè)置預(yù)定安裝處測(cè)量振動(dòng)、磁場(chǎng)和噪聲,如果超過(guò)容許值,請(qǐng)務(wù)必另行咨詢。

          關(guān)于容許值,請(qǐng)另行咨詢。


          備注*1:選項(xiàng)。*2:Windows是在美國(guó)以及其他國(guó)家的注冊(cè)的美國(guó)Microsoft Corp.商標(biāo)。*3:規(guī)格、尺寸均根據(jù)廠家、型號(hào)和配置的不同而會(huì)有所不同。


          布局示例:



          ※ 使用上述配置(包含維護(hù)工具),整體設(shè)備總重量約為5,000kg。

          ※ 請(qǐng)檢查地面強(qiáng)度(kg/m2)>3×設(shè)備總重量(kg)/占地面積(m2)。

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