英國(guó)牛津OXFORD CMI563便攜式面銅測(cè)厚儀
CMI563便攜式面銅測(cè)厚儀牛津儀器CMI563表面銅厚測(cè)量?jī)x專為測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度設(shè)計(jì)。

CMI563采用微電阻測(cè)試技術(shù)，提供了精確測(cè)試表面銅銅
厚（包括覆銅板、化學(xué)銅和電鍍銅板）的方法。由于采
用了目前市場(chǎng)上*為*的測(cè)試技術(shù)，無論絕緣板層多
厚，印刷電路板背面銅層不會(huì)對(duì)精確可信的測(cè)量結(jié)果產(chǎn)
生影響。
創(chuàng)新性的CMI563銅箔測(cè)厚儀配置探針可由用戶自行更換
的SRP-4探頭。相對(duì)于整個(gè)探頭的更換，更換探針更為方
便和經(jīng)濟(jì)。CMI563可由用戶選擇所測(cè)試的銅箔類型，即
化學(xué)銅或電鍍銅；甚至無需用戶校準(zhǔn)，即可測(cè)量線形銅
箔度。NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）認(rèn)證的校驗(yàn)用
標(biāo)準(zhǔn)片有不同厚度可供選擇。高品質(zhì)的CMI563更可享受
優(yōu)質(zhì)的保修期服務(wù)和牛津儀器客戶服務(wù)體系

整套儀器由一臺(tái)多功能手持式測(cè)厚儀（配有保護(hù)套）、測(cè)量探頭和NIST（美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)學(xué)會(huì)）認(rèn)證的校驗(yàn)用標(biāo)準(zhǔn)片組成。采用微電阻技術(shù)的SRP-4探頭是牛津儀器公司的產(chǎn)品，耗損的探針能在現(xiàn)場(chǎng)迅速、簡(jiǎn)便地更換，將停機(jī)時(shí)間縮至*短。更換探針模塊遠(yuǎn)比更換整個(gè)探頭經(jīng)濟(jì)。
應(yīng)用 特點(diǎn) 可測(cè)量剛性及柔性、單層、雙層或多層印刷電路板上的表面銅箔厚度
測(cè)量銅箔厚度的顯示單位為mils或µm
可用于銅箔的來料檢驗(yàn)、電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試
檢測(cè)印刷電路板上化學(xué)銅或電鍍銅厚度
精確定量測(cè)量蝕刻或整平后的銅箔厚度

準(zhǔn)確度：±1% (±0.1 μm)參考標(biāo)準(zhǔn)片
精確度：化學(xué)銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.2%；電鍍
銅：標(biāo)準(zhǔn)差0.5 %
分辨率： 0.01 mils > 1 mil, 0.001 mils <
1 mil, 0.1μm > 10 μm, 0.01 μm < 10 μm,
0.001 μm < 1 μm
測(cè)量厚度范圍：化學(xué)銅：10 μin–500 μin
(0.25 μm–12.7 μm),
電鍍銅：0.1mil to 6 mil (152 um)
線形銅線寬范圍：8 mil to 250 mil (203
um–6350 um)
存儲(chǔ)量：13500條讀數(shù)
尺寸：5 7/8” (長(zhǎng)) x 3 1/8” (寬) x 1 3/16”
(高) (14.9 x 7.94 x 3.02 cm)
重量：9 oz (0.26 kg) 包括電池
單位：一鍵即可實(shí)現(xiàn)英制和公制的自動(dòng)
轉(zhuǎn)換
電池：9伏堿性電池
電池壽命：65小時(shí)連續(xù)使用
接口：RS-232串行接口，波特率可調(diào)，用于
下載至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
顯示屏：4數(shù)位LCD液晶顯示，2數(shù)位存儲(chǔ)位
置，字符高1/2英寸（1.27厘米）
統(tǒng)計(jì)顯示：測(cè)量個(gè)數(shù)，標(biāo)準(zhǔn)差，平均值，
*大值，*小值。
統(tǒng)計(jì)報(bào)告（需配置串行打印機(jī)或PC電腦下
載)：存儲(chǔ)位置，測(cè)量個(gè)數(shù)，銅箔類型，線
形銅線寬，測(cè)量日期/時(shí)間，平均值，標(biāo)準(zhǔn)
差，方差百分比，準(zhǔn)確度，*高值，*低
值，值域，CPK值，單個(gè)讀數(shù)，時(shí)間戳，直
方圖。
PC 電腦下載：通過一個(gè)按鍵實(shí)現(xiàn)一個(gè)存儲(chǔ)
位置內(nèi)所有數(shù)據(jù)下載。