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性能指標(biāo)
- X射線管 4kW薄窗，Rh靶
- 分光器 10晶體可交換，5種狹縫可交換，高次線輪廓功能， 超高速分析功能
- 掃描速度 300°/min
- 檢測(cè)元素范圍 9F-92U
- 檢測(cè)濃度范圍 0.0001%-99%
- 局部分析功能 分析直徑500μm
- 成像功能 表示直徑250μm
主要應(yīng)用
- X射線熒光光譜儀具有非破壞性、快速、精度高、定性及定量準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)，是原子吸收、ICP等儀器強(qiáng)有力的補(bǔ)充。
- X射線熒光光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色、石化、地質(zhì)、玻璃、電子、納米材料等材料的化學(xué)元素成分快速分析 。
樣品要求
- 樣品有足夠的代表性
- 試樣在Ｘ射線照射及真空條件下應(yīng)該穩(wěn)定、不變形、不引起化學(xué)變化；固體試樣均勻，表面平整、光潔、無(wú)裂紋，無(wú)污染。
- 尺寸要求（mm） 大?。?0×10～45×45；
- 厚度：金屬 陶瓷 1～20、塑料等有機(jī)質(zhì)基體 5～20 2. 粉末 （1）壓片法 ? 樣品均勻、粒度>200目 樣品量>5g 樣品需干燥處理 壓片成形性較好 （2）熔片法 ： 樣品均勻、粒度>200目 樣品量（0.5g-2g） 硫化物、金屬單質(zhì)樣品需特殊注明 。
儀器說(shuō)明
- 可應(yīng)用于物理、化學(xué)、地質(zhì)地理、環(huán)保、冶金、材料等領(lǐng)域中的成份分析以及工礦企業(yè)質(zhì)量監(jiān)控
- 能對(duì)固體、粉末、薄膜以及納米材料中的元素進(jìn)行定性定量分析
- 多層鍍膜的每層元素定性定量分析，膜厚測(cè)定
- 樣品微區(qū)分析
- 主要附件：
- LiF（200），Ge，PET，TAP， SX- 88，SX-98，SX-76， LiF（220）8塊分光晶體，F(xiàn)PC、SC檢測(cè)器；
- 微區(qū)刻度尺 振動(dòng)磨、壓樣機(jī)、熔融爐
- 主要特點(diǎn)：
- 可以實(shí)現(xiàn)樣品的無(wú)損檢測(cè)
- 在沒有標(biāo)樣的情況下對(duì)樣品進(jìn)行全元素（9F-92U）分析
- 樣品處理相對(duì)簡(jiǎn)單
- 峰背比較高，分析靈敏度高
