CMI243鍍層測厚儀是一款靈便易用的儀器，專為金屬表面處理者設(shè)計，配
置的單探頭可測量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬鍍層。在極小的、形狀特殊的或
表面粗糙的樣品上進行測量的能力，使這款鍍層測厚儀成為緊固件行業(yè)應(yīng)用
的理想工具。
采用基于相位電渦流技術(shù)，CMI243手持式鍍層測厚儀以友好的控制和可以
與X射線熒光測厚儀媲美的準(zhǔn)確、精密的測量而著稱。
測量技術(shù)：一般的測試方法，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應(yīng)和
渦流方式，由于探頭的“升離效應(yīng)”導(dǎo)致的底材效應(yīng)，和由于測試件形狀和
結(jié)構(gòu)導(dǎo)致的干擾，都無法達(dá)到對金屬性鍍層厚度的精確測量。而牛津儀器將
的基于相位電渦流技術(shù)應(yīng)用到CMI243鍍層測厚儀，使其達(dá)到了±3%以
內(nèi)（對比標(biāo)準(zhǔn)片）的準(zhǔn)確度和0.3%以內(nèi)的精確度。牛津儀器對電渦流技術(shù)的
應(yīng)用，將底材效應(yīng)最小化，使得測量精準(zhǔn)且不受零件的幾何形狀影響。
另外，鍍層測厚儀一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準(zhǔn)。度高、穩(wěn)定性好
●測量精度可與X射線測厚儀媲美
●可測量各種微型部件(Φ2.5mm)
●232接口，可連接打印機或電腦

技術(shù)參數(shù)
誤差：±3%
分辨率：0.1um
最小曲率半徑：1.2mm(凸)
1.5mm(凹)
最小測量面積：Φ2.5mm
最小基體厚度：0.35mm
顯示：3位LCD數(shù)顯
測量單位：um-mils

可選校準(zhǔn)方式：精密兩點校準(zhǔn)
統(tǒng)計數(shù)據(jù)：平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個數(shù)n(9,999個)
值max、最小值min
接口：232串口
電源：1節(jié)9V電池
儀器尺寸：150x80x30mm
儀器重量：260g