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          鏡片反射率測定儀 USPM-RUⅢ

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱南京諾旭微光電有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地南京市
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時間2023/2/24 14:19:44
          • 訪問次數(shù)454
          產(chǎn)品標簽:

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          南京諾旭微光電有限公司自2009 年6 月成立以來,10多年來專注于中光學儀器的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售、 服務。公司有多年的光學市場銷售經(jīng)驗和專業(yè)的服務團隊。特別是在FPD平板顯示及半導體行業(yè)有著非常成 熟的配套解決方案,能為客戶提供合理、適用的顯微光學檢測方案。我公司同時擁有專業(yè)的光學設計師和經(jīng)驗豐富的維修工程師,有著完善的售后服務體系、能為客戶提供更多快捷、方便、優(yōu)質(zhì)的服務。 公司主要產(chǎn)品有: 各種光學顯微鏡(測量顯微鏡、 金相顯微鏡、視頻顯微鏡、體視顯微鏡),數(shù)碼顯微鏡,2D影像測量儀,一鍵測量儀,三坐標測量機,3D共聚焦顯微鏡,掃描電鏡,高速相 機,內(nèi)窺鏡,接觸角測量儀,等離子清洗設備,特殊顯微鏡改造,顯微鏡配件,視覺 CCD 鏡頭及LED 光源等相關儀器。主要服務于半導體、液晶面板、探針臺、MEMS、精密刀具、精密加工、金屬材料、 光纖通訊、生命科學、高校、研究所等行業(yè)所涉及的顯微檢查、測量、分析。 經(jīng)營理念:品質(zhì)、服務、價值、共贏
          高速相機
          USPM-RUIII鏡片反射率測定儀適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)USPM-RUIII鏡片反射率測定儀可**測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉
          鏡片反射率測定儀 USPM-RUⅢ 產(chǎn)品信息

           

               

          USPM-RU III鏡片反射率測定儀

          適合測量曲面反射率、鍍膜評價、微小部品的反射率測定系統(tǒng)

           

          USPM-RU III鏡片反射率測定儀

          可**測量當前分光儀無法測量的微小、薄樣本的光譜反射率,不會與樣本背面的反射光產(chǎn)生干涉。

          USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀的特點:

          ◆消除背面反射光
          采用特殊光學系,消除背面反射光。不必進行背面的防反射處理,可正確測定表面的反射率。

          ◆可測定微小領域的反射率
          用對物鏡對焦于小區(qū)域(φ60μm),可測定鏡片曲面以及鍍膜層斑點。

          ◆測定時間短
          使用Flat Field Grating(平面光柵)和線傳感器的高速分光測定,可迅速實現(xiàn)再現(xiàn)性很高的測定。

          ◆XY色度圖、L*a*b測定可能
          以分光測定法為基準,從分光反射率情況可測定物體顏色。

          ◆可測定的Hard Coat(高強度鍍膜)膜厚
          用于涉光分光法,可以不接觸、不破壞地測定被測物的膜厚(單層膜)。

          USPM-RUⅢ鏡片反射率測定儀主要用途:
          1、各種透鏡(眼鏡透鏡、光讀取透鏡等)
          2、反射鏡、棱鏡以及其他鍍膜部品等的分光反射率、膜厚測定(單層膜)

           

           

           

          鏡片反射率測定儀 USPM-RU III:規(guī)格

          測定波長

          380 nm~780 nm

          測定方法

          與參照樣本的比較測定

          被檢物N.A.

          0.12(使用10×物鏡時) 
          0.24(使用20×物鏡時) 
          * 與物鏡的N.A.不同。

          被檢物W.D.

          10.1 mm(使用10×物鏡時) 
          3.1 mm(使用20×物鏡時)

          被檢物的曲率半徑

          -1R ~-∞、+1R~∞

          被檢物的測定范圍

          約ø60 μm(使用10×物鏡時) 
          約ø30 μm(使用20×物鏡時)

          測定再現(xiàn)性(2σ)

          ±0.1%(380 nm~410 nm測定時) 
          ±0.01%(410 nm~700 nm測定時)

          顯示分辨率

          1 nm

          測定時間

          數(shù)秒~十幾秒(因取樣時間而異)

          光源規(guī)格

          鹵素燈 12 V 100 W

          載物臺Z方向驅(qū)動范圍

          85mm

          PC接口

          USB方式

          裝置重量

          機身:約20 kg(PC、打印機除外) 
          光源用電源:約3 kg 
          控制器盒:約8 kg

          裝置尺寸

          機身: 
          300(W)×550(D)×570(H) mm 
          光源用電源: 
          150(W)×250(D)×140(H) mm 
          控制器盒: 
          220(W)×250(D)×140(H) mm

          電源規(guī)格

          光源用電源: 
          100 V(2.8 A)/220 V AC 
          控制器盒: 
          100V(0.2A)/220V AC

          使用環(huán)境

          水平且無振動的地方 
          溫度: 23±5 °C 
          濕度: 60%以下、無結露

          * 本裝置不保證溯源體系中的精度。 
          * 可以特別訂做測定波長440 nm~840 nm規(guī)格。

           

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