高低溫試驗(yàn)箱用途：

  主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國家標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過檢測(cè)，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

控制器

  高低溫實(shí)驗(yàn)箱溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。(日本RKC)
資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。
具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為穩(wěn)定。
可選配打印機(jī)。
冷凍及風(fēng)路循環(huán)系統(tǒng)
  高低溫實(shí)驗(yàn)箱制冷機(jī)采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。
高低溫試驗(yàn)箱設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)

GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592 技術(shù)條件

GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則