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          德國布魯克超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準
          • 公司名稱上海翔研精密儀器有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地
          • 廠商性質其他
          • 更新時間2023/1/9 10:09:20
          • 訪問次數(shù)249
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          上海翔研精密儀器有限公司是專業(yè)經營檢測儀器的綜合性生產銷售型公司,總部在上海嘉定,在江蘇常州設有分公司。翔研儀器擁有一支集技術咨詢、銷售、服務為一體的專業(yè)團隊。是一個活力與前景的多元化、規(guī)范化的新型公司。公司一直秉承“為客戶創(chuàng)造價值”的營銷理念,為客戶在不同發(fā)展階段提供高性價比的測量儀器,在成就自我的同時與客戶達成共贏!公司一直以“*、服務專業(yè)、顧客滿意”為經營宗旨,以“求仁為大、求利為小、真正服務為民”為經營理念,開拓發(fā)展不同類別、不同領域的測量儀器。憑著雄厚的實力,成功地成為常州市計量測試技術研究所在上海地區(qū)的合作伙伴!為上海廣大外資、民營企業(yè)及政府部門提供更方便、更經濟、更專業(yè)、更出色的計量服務。客戶僅需將檢測計劃告知我公司,我公司將及時為客戶提供檢測并出具相關證書,取送件及現(xiàn)場檢測均由我公司免費安排。面對新的機遇與挑戰(zhàn),“上海翔研”始終站在時代的前沿,乘風破浪,與客戶一起創(chuàng)造21世紀的恢宏篇章,歡迎新老客戶前來洽談合作。
          簡介:
          德國布魯克超輕元素微區(qū)X射線熒光成像光譜儀 產品信息

          詳細說明

          產品品牌:Bruker

          產品產地:

          產品型號:M4 TORNADO PLUS

          產品描述:作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產品,M4 TORNADOPLUS又增添了的功能

          M4 TORNADOPLUS - 微區(qū)X射線熒光成像的新紀元

          M4 TORNADOPLUS能夠檢測出C(6)-Am(95)間元素的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀。

          作為微區(qū)X射線熒光成像光譜儀M4TORNADO系列的新產品,M4 TORNADOPLUS又增添了的功能,例如創(chuàng)新性的孔徑管理系統(tǒng),高通量脈沖處理器以及快速靈活更換的樣品臺。

          更輕、更快、更深

          M4 TORNADOPLUS采用超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器(SDD)實現(xiàn)對輕元素碳的檢測,高通量脈沖可以大程度提升采樣速度,BRUKER孔徑管理系統(tǒng)(AMS)可以獲取超大景深,對表面不平整樣品分析具有的優(yōu)勢。

          超輕元素檢測

          M4 TORNADOPLUS能夠檢測分析輕質元素碳的微區(qū)X射線熒光成像光譜儀,具備兩個具有超輕元素窗口的大面積硅漂移探測器和一個特別優(yōu)化的Rh靶X射線光管。

          與普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀不同,M4 TORNADOPLUS在不影響較高能量范圍內元素靈敏度的前提下,還可以檢測原子數(shù)小于11的元素(Z<11),例如氟(F)、氧(O)、氮(N)和碳(C)。

          隨著功能性的增強,M4 TORNADOPLUS應用也正在開發(fā)和拓展中,例如地質學、礦物學、生物學、聚合物研究或半導體行業(yè)等方向。

          應用實例-螢石和方解石的區(qū)分

          螢石(CaF2)和方解石(CaCO3)都是以鈣為主要成分的礦物。它們的區(qū)別在于分別存在輕質元素氟(F),氧(O),碳(C);由于普通微區(qū)X射線熒光成像光譜儀檢測不到Z<11(Na)的元素,無法區(qū)分這兩種礦物,所以螢石和方解石的光譜圖上都只會顯示Ca元素譜線。

          利用超輕元素探測器,M4 TORNADOPLUS可以檢測氟(F)、氧(O)和碳(C),從而可靠地鑒別這兩種礦物。

          圖:鑒別螢石與方解石

          左:方解石(紅)和螢石(藍)的元素分布圖;圖像尺寸:20×12mm2;掃描分辨率:800×460pixels             

          右:螢石(藍)和方解石(紅)的輕質元素光譜圖。

          應用實例-電路板

          由于AMS的場深度深,如圖所示電路板的X射線圖像獲得更多的細節(jié)。此外,由于激發(fā)X射線光子的入口和出口角度減小,光束能量依賴性變得不那么明顯。

          圖:具備AMS與不具備AMS的電路板元素分布圖

          左圖: 標準多導毛細管聚焦在電路板上,元件的高點失焦,顯得模糊。

          右圖: AMS系統(tǒng)加載下圖像顯示高景深,所有組件聚焦在更大的景深范圍內。


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