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          LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

          參考價(jià)面議
          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱上海玖橫儀器有限公司
          • 品       牌
          • 型       號(hào)
          • 所  在  地
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時(shí)間2022/12/30 10:35:18
          • 訪問次數(shù)322
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          上海玖橫儀器有限公司是一家專業(yè)從事儀器儀表研發(fā)、生產(chǎn)、銷售及服務(wù)的企業(yè)。超聲波探傷儀:(EPOCH 600超聲探傷儀、EPOCH 6LT超聲探傷儀、EPOCH 650超聲探傷儀、EPOCH 1000超聲探傷儀、USM 36超聲探傷儀、USN 60超聲探傷儀、USM go 超聲探傷儀、Ominscan SX相控陣探傷儀、OmniScan MX2相控陣TOFD探傷儀);超聲波測厚儀:(27MG超聲波測厚儀、45MG超聲波測厚儀、38DL PLUS超聲波測厚儀、DM5E超聲波測厚儀、CL5超聲波測厚儀、MAGNA-MIKE 8600霍爾效應(yīng)測厚儀,ETG-100電磁高溫測厚儀);超聲波探頭;定制相控陣探頭;渦流探傷儀:(NORTEC 600渦流探傷儀);硬度計(jì); 內(nèi)窺鏡:(IPLEX NX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX GX/GT奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX G Lite奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX TX奧林巴斯內(nèi)窺鏡、IPLEX YS奧林巴斯內(nèi)窺鏡、XLGo 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE、XL Detect 工業(yè)視頻內(nèi)窺鏡GE新款、UVin專業(yè)紫外視頻內(nèi)窺鏡、);脈沖發(fā)生器:(DRP300替代奧林巴斯的5072PR,5073PR);合金分析儀:(Vanta奧林巴斯手持式合金分析儀、DELTA Professional手持式合金分析儀奧林巴斯、DELTA Element手持式合金分析儀奧林巴斯)等儀器儀表,
          LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
          LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀 產(chǎn)品信息

          LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

          利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚度。
           

          儀器將一種把測厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語言,以滿足客戶的各種需求。

          涂層測厚儀LEPTOSKOP 2042是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長,可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

           

          彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

          LEPTOSKOP 2042 涂層測厚儀

          特點(diǎn)概述
           
          大圖解屏幕 48 mm x 24 mm, 有背景燈校準(zhǔn)選項(xiàng) 出廠時(shí)已校準(zhǔn),立即可用 在未知涂層上校準(zhǔn)* 零校準(zhǔn)* 在無涂層的基體上一點(diǎn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)* 在有涂層的基體上校準(zhǔn)*校準(zhǔn)數(shù)據(jù)可以別單獨(dú)存儲(chǔ)在獨(dú)立的校準(zhǔn)檔案中,也可以隨時(shí)調(diào)出可選擇的顯示模式,以形式去完成測量任務(wù)*輸入和極限監(jiān)視*在Windows下有簡單的存儲(chǔ)讀數(shù)檔案管理*可用的電腦軟件STATWIN 2002 和EasyExport統(tǒng)計(jì)*可統(tǒng)計(jì)評(píng)估999個(gè)讀數(shù)小值、大值、測量個(gè)數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)偏差和極限監(jiān)視局部厚度和平局膜層厚度(DIN EN ISO 2808)在線統(tǒng)計(jì),所有統(tǒng)計(jì)值概括

           

            3種配置級(jí)別以更好的完成測量人任務(wù)
          LEPTOSKOP 2042 有3種配置級(jí)別
           
           基本型 – 證明質(zhì)量的基本特征
           高級(jí)型 - 附加統(tǒng)計(jì)評(píng)估
           專業(yè)型 - 統(tǒng)計(jì)評(píng)估和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)
            
          如果針對(duì)新的測量要求,而需要儀器增加新的功能,可以在任何時(shí)候把儀器升級(jí)為高級(jí)型和/或?qū)I(yè)型。升級(jí)只需在現(xiàn)場輸入解鎖代碼,“統(tǒng)計(jì)”和/或“統(tǒng)計(jì)& 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)”,便可完成;而不需要把儀器反廠或重新購買新機(jī)器。

           

            多樣的探頭
          多樣的外部探頭使LEPTOSKOP 2042在困難的條件下,更容易地測量復(fù)雜幾何圖形上的特殊涂層厚度。涂層厚度是20mm 也是可以的。根據(jù)需求,我們也可以訂做特殊探頭。

           

          關(guān)鍵詞:涂層測厚儀 測厚儀
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