一、概述
本系列產(chǎn)品根據(jù)試品使用的特殊性，分為兩箱式動(dòng)態(tài)沖擊和一箱式靜態(tài)沖擊。既可作冷熱沖擊試驗(yàn)，也可作單獨(dú)高溫或單獨(dú)低溫使用。廣泛用于航空、航天、電子、IT行業(yè)等模擬試品在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)及對(duì)電子元器件的安全性測(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選等，同時(shí)可通過(guò)此試驗(yàn)，進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。
二、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法》GB2423.22-93
《溫度沖擊試驗(yàn)》GJB 150.5-86
《溫度沖擊方法》GJB 360.7-87
《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 11158-2008
《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10589-2006
《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB 10592-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫》GBT 2423.1-2008
《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》GBT 2423.2-2008