HS810便攜式TOFD超聲波檢測儀

HS810滿足 GB/T4730、EN12668、BS 7706、ASTM、ASME便攜式ENV583 超聲波CEN -14751、
 NEN 1822、DNV、API、RBIM等標(biāo)準(zhǔn)及新容規(guī)、鍋規(guī)的指標(biāo)要求；
具有JB/T 4730推薦使用的TOFD缺陷測長功能——合成孔徑聚焦（SAFT）；
 具有長續(xù)航時(shí)間、高檢測效率、人性化的操作界面，現(xiàn)場使用性更好，可實(shí)現(xiàn)現(xiàn)場遠(yuǎn)程控制及自動掃查：
 提供滿足企業(yè)特殊要求的軟件定制服務(wù)。
 提供滿足現(xiàn)場特殊檢測要求的手動、 自動掃查器及硬件配置定制服務(wù)。

HS810A 中科漢威超聲波相控陣探傷儀 特優(yōu)點(diǎn)
→ 全中文菜單式友好操作界面，方便快捷；
→ *高亮彩色液晶顯示，可根據(jù)不同現(xiàn)場環(huán)境改變；
→ 超聲衍射波成像檢測，解決傳統(tǒng)放射檢測的掃查
    厚度及檢測效率局限性，節(jié)約探傷成本；
→ 集A掃、B掃成像、C掃成像、P掃成像、TOFD成像、
    導(dǎo)波成像等多能一體；
→ HS810*有合成孔徑聚焦技術(shù)，領(lǐng)潮行業(yè)，有效提高缺陷
     測量精度；
→ HS810波形相位穩(wěn)定，信噪比高，缺陷識別更清晰；
→HS810 內(nèi)置現(xiàn)場檢測工藝模型，自動生成檢測工藝；
→ HS810便攜掃查器及自動掃查裝置代替手工掃查，滿足各
     種工件檢測要求；
→ HS810多通道TOFD檢測實(shí)現(xiàn)大厚壁焊縫一次性全*覆蓋；
→ HS810超大機(jī)內(nèi)存儲空間及便捷的文件網(wǎng)絡(luò)傳輸功能；
→ HS810高分子復(fù)合材料機(jī)身，有效防震、抗跌落；
→ HS810集成數(shù)據(jù)電纜，裝卸方便，信號傳輸損耗??；
→ HS810高性能安保鋰電，模塊插接，一機(jī)兩電，超長續(xù)航。

HS810B中科漢威超聲波相控陣探傷儀 探傷功能
掃查方式：HS810對焊縫進(jìn)行全面非平行、平行掃查
缺陷定位：HS810分析軟件直接讀出缺陷位置、深度、自身高度
缺陷顯示：HS810直觀顯示缺陷在工件中的位置及上下端點(diǎn)
Ａ型掃描HS810：射頻顯示提高儀器對材料中缺陷模式的評價(jià)能力
Ｂ掃成像：HS810實(shí)時(shí)顯示缺陷截面形狀
Ｃ掃成像：HS810實(shí)時(shí)顯示缺陷俯視成像
Ｄ掃成像：HS810實(shí)時(shí)顯示缺陷的灰度掃查圖，直觀顯示缺陷并對
            缺陷質(zhì)量進(jìn)行評價(jià)
Ｐ掃成像：實(shí)時(shí)空氣超聲定位，對缺陷進(jìn)行三維描述，提高
            缺陷判性準(zhǔn)確率
導(dǎo)波成像：對薄壁工件進(jìn)行一維掃查，獲取二維成像

C 掃描范圍
多路TOFD檢測和PE檢測全*覆蓋200ｍｍ厚度以內(nèi)的分區(qū)
掃查；可擴(kuò)展至400ｍｍ厚度。

D 數(shù)據(jù)分析
直通波去除：近表面缺陷處理工具，提高近表缺陷分析精度
橫豎調(diào)整：滿足不同現(xiàn)場操作習(xí)慣
ＳＡＦＴ：有效提高缺陷測量精度的功能

E數(shù)據(jù)存儲與輸出
→預(yù)先調(diào)校好各類探頭與儀器的組合參數(shù)，方便存儲、調(diào)出、離線分析、
   復(fù)驗(yàn)、打印、通訊傳輸。
→超大內(nèi)存容量，單次掃查*多可記錄40米。
→掃查圖像、文件可根據(jù)使用要求自動保存、自動編名。
→支持雙USB拷貝、網(wǎng)絡(luò)傳輸、外接顯示器等。

HS810技術(shù)參數(shù)
頻帶寬度：0.3-22MHz
脈沖電壓：－400Ｖ
脈沖前沿 lt;10ns
重復(fù)頻率：1000Hz（每通道）
平均次數(shù)：8
采樣深度：512，1024
匹配阻抗：25，500
檢波方式：數(shù)字檢波
增益范圍：0dB－110dB波形顯示方式：射頻波，
            檢波（全檢、負(fù)或正半檢波），
            信號頻譜（FFT）
掃描延時(shí)：0~500us可控0.008us精度
掃查定位：時(shí)基（內(nèi)置實(shí)時(shí)時(shí)鐘-0.02秒精度）/真實(shí)位置（增量編碼器-0.5mm精度）
成像模式：根據(jù)選擇的操作模式和相應(yīng)的儀器配置及設(shè)置顯示連續(xù)A掃、B掃成像、C掃成像、TOFD成像、P掃成像、導(dǎo)波成像
直線掃查長度：0-40米
記錄方式：原始數(shù)據(jù)記錄
離線分析：恢復(fù)和回放掃查時(shí)記錄的A掃波形
            缺陷尺寸測量和輪廓描述
            厚度/幅度數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析
            記錄轉(zhuǎn)換到ASCⅡ/MS Word/MS Excel

數(shù)據(jù)報(bào)告：直接打印A掃、頻譜圖、B掃圖象、C掃圖象、TOFD圖象、P掃圖象、導(dǎo)波檢測

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