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Apreo 2 SEM掃描電子顯微鏡

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公司名稱成都信賽賽思科技有限公司
品牌
型號(hào)
所在地
廠商性質(zhì)其他
更新時(shí)間2022/11/23 10:35:32
訪問次數(shù)627

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公司介紹主營產(chǎn)品

成都信賽賽思科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱“成都信賽”），總部位于美麗的天府之國成都，在西安、北京、南京、深圳均設(shè)有服務(wù)機(jī)構(gòu)，為客戶提供測(cè)試產(chǎn)品的銷售，綜合測(cè)試系統(tǒng)的開發(fā)及集成，自動(dòng)化測(cè)試軟件等產(chǎn)品，致力成為綜合服務(wù)提供商，為客戶提供一站式服務(wù)。公司在中國半導(dǎo)體測(cè)試和微波領(lǐng)域有突出表現(xiàn)，已經(jīng)與多家世界的半導(dǎo)體器件和精密測(cè)試領(lǐng)域的品牌廠商確定了合作關(guān)系。這些包括：探針臺(tái)系統(tǒng)制造商FORMFACTOR；微波組件和測(cè)試系統(tǒng)制造商MAURY；系統(tǒng)方案合作商keysight，為客戶提供專業(yè)、全面的測(cè)試設(shè)備和解決方案；微組裝領(lǐng)域擁有一批在電子裝配、電子封裝及半導(dǎo)體行業(yè)有豐富工作經(jīng)驗(yàn)的專業(yè)技術(shù)工程師團(tuán)隊(duì)，并同世界的設(shè)備儀器供應(yīng)商合作，如ACCRETECH，Centrotherm, Ficontec, Tresky, Dage, March, TPT, Veeco, MIYACHI 等，不斷提升系統(tǒng)整合能力，為客戶提供高質(zhì)量、的服務(wù)。不僅能為客戶提供性能可靠的設(shè)備，還能根據(jù)客戶的實(shí)際生產(chǎn)情況制訂切實(shí)可行的工藝技術(shù)方案。目前公司用戶遍及國內(nèi)集團(tuán)與科研院所，在業(yè)內(nèi)有著良好的口碑。已成功地為、中國航天、中國航空、中國船舶、中國兵器集團(tuán)等所屬的眾多科研院所、全國高校以及工廠提供了優(yōu)質(zhì)的設(shè)備和服務(wù)。在電磁兼容測(cè)試領(lǐng)域，通過多年的發(fā)展，與國內(nèi)外優(yōu)秀的公司合作（美國ETS和四威功率電子），我司可以滿足GJB151A/GJB151B、GJB1389以及DO-160等各種測(cè)試需求的產(chǎn)品和測(cè)試系統(tǒng)。在國內(nèi)高場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試領(lǐng)域有的技術(shù)優(yōu)勢(shì)。光通訊測(cè)試領(lǐng)域：我司提供一體化解決方案，可以滿足從芯片到模塊到整機(jī)的完整測(cè)試解決方案。成都信賽成立之初確立了以服務(wù)用戶，一為根本，以精益求精為宗旨，推動(dòng)中國射頻微波測(cè)試產(chǎn)品，助力半導(dǎo)體行業(yè)發(fā)展為目標(biāo)的長遠(yuǎn)發(fā)展戰(zhàn)略。發(fā)展和維護(hù)與客戶的密切聯(lián)系和長期戰(zhàn)略合作，為客戶提供快捷有效和高技術(shù)附加值的服務(wù)，不斷完善產(chǎn)品線，共同促進(jìn)中國電子事業(yè)的發(fā)展。我們期待與各界朋友合作！

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介新的ThermoScientificApreo2SEM經(jīng)擴(kuò)展可訪問高性能成像以及針對(duì)所有級(jí)別顯微鏡專業(yè)知識(shí)的分析

Apreo 2 SEM掃描電子顯微鏡產(chǎn)品信息

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 經(jīng)擴(kuò)展可訪問高性能成像以及針對(duì)所有級(jí)別顯微鏡專業(yè)知識(shí)的分析。憑借 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù)，一種的實(shí)時(shí)元素成像功能，可以通過最直觀的界面隨時(shí)獲得組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS 實(shí)施相關(guān)的所有麻煩，為您提供的結(jié)果時(shí)間和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)（一種光學(xué)系統(tǒng)、可以自己對(duì)齊），Apreo 2 SEM 對(duì)用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員提出了更小的要求。此外，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)圖像微調(diào)過程的自動(dòng)化。FLASH 技術(shù)對(duì)鏡頭居中、消像散器和圖像的最終焦點(diǎn)執(zhí)行任何必要的校正。這些技術(shù)的組合意味著電子顯微鏡的新用戶可以獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外、Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。

產(chǎn)品特性

范圍廣泛的樣品類型
實(shí)時(shí)定量 EDS
長工作距離
SmartAlign 技術(shù)

產(chǎn)品應(yīng)用

半導(dǎo)體失效分析

規(guī)格參數(shù)

	Apreo 2S	Apreo 2C
分辨率	在 1 kV 下 0.9 nm 在 1 kV 下 0.8 nm（光束減速）在 1 kV 下 1.0 nm、工作距離為 10 mm （光束減速）在 500 kV 下 0.8 nm（光束減速）在 200 kV 下 1.2 nm（光束減速）	在 1 kV 下 1.2 nm 在 1 kV 下 1.0 nm（光束減速）在 500 kV 下 1.2 nm（光束減速）
標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)器	ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+	ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+
可選檢測(cè)器	DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼、EBIC 等。
著陸能量范圍	20 eV – 30 keV
載物臺(tái)偏倚（光束減速）	-4000 V 至 +600 V 標(biāo)準(zhǔn)（每個(gè)系統(tǒng)）
低真空模式	可選：10 – 500 Pa 腔室壓力
載物臺(tái)	5-軸電動(dòng)共心載物臺(tái)，110 x 110 mm2，105° 傾斜范圍。樣品重量：未傾斜位置，5 kg。
射束電流	50 nA（也可配置為 400 nA）
腔室	340 mm 內(nèi)寬，12 個(gè)端口，最多三個(gè)同步 EDS 檢測(cè)器（兩個(gè)在 180° 處）、共面 EDS/EBSD 與載物臺(tái)的傾斜軸正交