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          FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡

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          具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱上海禹重實(shí)業(yè)有限公司
          • 品       牌
          • 型       號
          • 所  在  地
          • 廠商性質(zhì)其他
          • 更新時(shí)間2022/10/29 10:41:34
          • 訪問次數(shù)250
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          禹重科技(UZONGLAB)是一家立足華東,以拓展全國市場為主的進(jìn)口儀器貿(mào)易和技術(shù)咨詢服務(wù)公司,下設(shè)三個事業(yè)部和一個中心,即分析儀器事業(yè)部、標(biāo)耗備件事業(yè)部、大客戶項(xiàng)目部、以及中禹聯(lián)重檢測技術(shù)中心。   作為Thermo Science(賽默飛)、ZEISS(蔡司)、 Zwick(茲維克)和INNOVATEST(軼諾)品牌的核心代理商,禹重科技?(UZONGLAB)將*的分析測試前沿技術(shù)和產(chǎn)品帶給國內(nèi)客戶,為高校、科研院所、政府機(jī)構(gòu)以及材質(zhì)工業(yè)過程控制等行業(yè),提供金屬和非金屬材料的成分分析儀器、表面分析儀器、硬度和力學(xué)設(shè)備以及樣品前處理平臺等儀器產(chǎn)品,同時(shí)提供標(biāo)準(zhǔn)樣品和小型試驗(yàn)設(shè)備銷售、材料測試咨詢等綜合服務(wù)。   從冶金鑄造和功能材料的開發(fā);船舶建造和石化裝備升級換代;到汽車零部件和電子電工的可靠性測試;環(huán)境檢測和工業(yè)品品質(zhì)的不斷提升,禹重科技?(UZONGLAB)在這些方面都發(fā)揮著實(shí)實(shí)在在的作用。   我們具備豐富的經(jīng)驗(yàn),充分了解每個客戶的核心需求,并致力于提供Z佳的解決方案。為客戶提供更專業(yè)、更安全、更便捷的產(chǎn)品和服務(wù)是我們的*目標(biāo)。
          FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM)和兩個DualBeam系統(tǒng),所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室,材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求
          FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡 產(chǎn)品信息

          FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡包括6個變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡(ESEM™)和兩個DualBeam™系統(tǒng),所有這些都可以容納多個樣品和工業(yè)過程控制實(shí)驗(yàn)室,材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡,是一款多功能,高性能儀器與任何SEM系統(tǒng)的樣本,以適應(yīng)范圍的三種模式(高真空,低真空和ESEM)。如能譜儀,波長色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析系統(tǒng),可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統(tǒng)。
          FEI Quanta系列 掃描電子顯微鏡
          可用于研究各種材料并表征材料的結(jié)構(gòu)與成分,同時(shí)提供的靈活性,提高了性能與通用性,可應(yīng)對當(dāng)今廣泛研究領(lǐng)域的各種挑戰(zhàn),滿足多方需要。觀察樣品,獲取所有相關(guān)數(shù)據(jù):將顯微鏡附件與表面形貌和成分圖像結(jié)合使用,確定材料特性及其化學(xué)元素組成。
          導(dǎo)航功能包括自動 Montage 導(dǎo)航、樣品臺移動雙擊控制、拖放變焦和其他有用的標(biāo)準(zhǔn)結(jié)合功能。SmartSCAN™ 技術(shù)采用智能掃描策略,可減少噪聲,提供質(zhì)的數(shù)據(jù)。其他新功能包括可提高低加速電壓 (kV) 性能的射束減速功能、Nav-Cam™ 彩色圖像導(dǎo)航和使 Quanta FEG 系列具備更大靈活性的新型伸縮式檢測器等。
          采用環(huán)境掃描顯微 (ESEM) 技術(shù),打造wei一的高分辨率 FEG-SEM 產(chǎn)品
          可表征導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品,且在各操作模式下均可能實(shí)現(xiàn)二次電子 (SE) 和背散射電子(BSE) 成像
          限度減少樣品制備量;低真空和環(huán)境掃描 (ESEM) 功能可實(shí)現(xiàn)無電荷成像,并能實(shí)現(xiàn)對絕緣樣品和含水樣品的分析
          在 Quanta 的“經(jīng)由透鏡抽氣”zhuan利技術(shù)產(chǎn)生的高真空和低真空環(huán)境中對導(dǎo)電和非導(dǎo)電樣品進(jìn)行能譜 (EDS) 和電子背散射 (EBSD) 分析,以提高分析能力。穩(wěn)定的高射束電流(達(dá)到 200 nA)可實(shí)現(xiàn)快速、準(zhǔn)確的分析
          在原位樣品臺上可對各種保持自然狀態(tài)的樣品進(jìn)行動態(tài)原位分析,分析溫度高于或低于環(huán)境溫度,變化區(qū)間從 165 °C 到1500 
          使用可選的射束減速模式能進(jìn)行表面成像,以從導(dǎo)電樣品中獲取表面和成分信息
          易用,直觀的軟件讓新手也能高效操作

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