掃描電鏡專用原位納米壓痕儀

瑞士Alemnis公司位于風(fēng)景秀麗的瑞士圖恩，它是瑞士聯(lián)邦材料科學(xué)與技術(shù)研究所（EMPA）的獨(dú)立子公司，于2008年成立。依托于EMPA的強(qiáng)大研發(fā)能力和技術(shù)支撐，Alemnis公司專注于原位納米壓痕儀的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。

瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀是一款結(jié)構(gòu)緊湊，功能多樣的儀器，可與眾多測(cè)試和成像設(shè)備集成，并可用于多種不同的應(yīng)用場(chǎng)景。

瑞士Alemnis公司的原位納米壓痕儀適用于掃描電子顯微鏡（SEM）的原位測(cè)量，也可用于同步輻射裝置和光學(xué)顯微鏡的常規(guī)環(huán)境中使用。

這款原位納米壓痕儀是市場(chǎng)上一款能夠提供真正形變控制模式的儀器，可為許多材料測(cè)試和各種應(yīng)用領(lǐng)域提供的靈活性、準(zhǔn)確性和真正的原位納米機(jī)械性能測(cè)試。

Alemnis的納米壓痕儀可經(jīng)過改裝，升級(jí)模塊后，可在高剪切應(yīng)變下進(jìn)行動(dòng)態(tài)機(jī)械性能測(cè)試，并可在超高溫條件下進(jìn)行測(cè)試。

技術(shù)規(guī)格：

主壓痕模式：真形變

壓痕深度：35μm

形變本底噪聲：<>

室溫下的典型漂移：5nm / min

載荷范圍：標(biāo)準(zhǔn)500mN/選配1.5N

載荷本底噪聲：4uN