X-3600是一種體現(xiàn)X射線熒光分析技術(shù)*新進(jìn)展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低功率小型X光管為激發(fā)源，電制冷硅半導(dǎo)體探測(cè)器為探測(cè)單元，再加上我公司專門開發(fā)的應(yīng)用軟件，充分發(fā)揮各部件的優(yōu)異性能，保證了整臺(tái)儀器的高分辨率及通用適應(yīng)性。任何需要多元素同時(shí)分析的地方， 正是它大有作為之處。

儀器檢測(cè)能力強(qiáng)，分辨率高，適用于各行業(yè)對(duì)不同元素進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)。在不同工作環(huán)境下分析范圍從Al（13號(hào)元素）到U（92號(hào)元素）。無(wú)損分析迅速，無(wú)需制樣，測(cè)試時(shí)間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測(cè)精度從PPM級(jí)別到千分之上等別。

技術(shù)參數(shù)：

外型尺寸：600mm×530mm×330mm

可測(cè)試樣品大?。宏P(guān)倉(cāng)測(cè)量：220mm×200mm×150mm

開倉(cāng)測(cè)量：無(wú)限大

儀器重量：50公斤

工作環(huán)境溫度：0——35℃

工作環(huán)境相對(duì)濕度：≤80%

元素分析范圍：鋁（Al）——鈾（U）

含量分析范圍：1PPM——99.999%

測(cè)量時(shí)間:10——180秒可調(diào)

激發(fā)源：低功率X射線管

高壓電源：美國(guó)Spellman高壓電源

探測(cè)器：美國(guó)Amptek電制冷Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器

儀器分辨率：55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線，分辨率優(yōu)于149eV

多道分析器：2048道

軟件：基于WINDOWS的強(qiáng)大工作軟件

客戶可進(jìn)行二次開發(fā)，自行開發(fā)任意多個(gè)分析方法

工作電源：交流 220V 50Hz

主要特點(diǎn)：

基本參數(shù)法對(duì)從鋁（13號(hào)元素）至鈾（92號(hào)元素）定性分析測(cè)量。

包裹樣品檢測(cè)辨別系統(tǒng)。

樣品室高清成像定位系統(tǒng)，方便微小樣品定位測(cè)量。

電制冷與內(nèi)部雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合，維持內(nèi)部工作環(huán)境穩(wěn)定。

內(nèi)部動(dòng)力學(xué)風(fēng)道設(shè)計(jì)，快速排出多余熱量。

雙峰位快速自動(dòng)校準(zhǔn)。

雙箱體結(jié)構(gòu)，抗力強(qiáng)且方便硬件升級(jí)。

儀器工作方法任意開發(fā)。

定量分析：包括經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法，理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。

定性分析：包括Kl譜線標(biāo)記法，譜圖比較法，光標(biāo)自動(dòng)尋峰等。

測(cè)試報(bào)表根據(jù)客戶要求獨(dú)立設(shè)計(jì)。