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          光學(xué)表面輪廓檢測儀

          參考價面議
          具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
          • 公司名稱深圳市中圖儀器股份有限公司
          • 品       牌
          • 型       號SuperviewW
          • 所  在  地深圳市
          • 廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
          • 更新時間2022/8/8 17:28:45
          • 訪問次數(shù)684
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          深圳市中圖儀器股份有限公司成立于2005年,致力于全尺寸鏈精密測量儀器及設(shè)備的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售。


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          中圖儀器堅持以技術(shù)創(chuàng)新為發(fā)展基礎(chǔ),擁有一支集光、機(jī)、電、信息技術(shù)于一體的技術(shù)團(tuán)隊,歷經(jīng)20年的技術(shù)積累和發(fā)展實(shí)踐,研發(fā)出了基礎(chǔ)計量儀器、常規(guī)尺寸光學(xué)測量儀器、微觀尺寸光學(xué)測量儀器、大尺寸光學(xué)測量儀器、常規(guī)尺寸接觸式測量儀器、微觀尺寸接觸式測量儀器、行業(yè)應(yīng)用檢測設(shè)備等全尺寸鏈精密儀器及設(shè)備,能為客戶提供從納米到百米的精密測量解決方案。


          中圖儀器的銷售和服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)遍及全國三十多個省、市、自治區(qū),產(chǎn)品遠(yuǎn)銷歐、美、東南亞等海外市場,堅持為客戶提供高質(zhì)量產(chǎn)品和服務(wù)。


          中圖儀器還將繼續(xù)專注于精密測量檢測技術(shù)的發(fā)展,自強(qiáng)不息、知難而上、勇于創(chuàng)新,為中國制造技術(shù)的快速發(fā)展貢獻(xiàn)力量!

          一鍵式測量儀,影像測量儀,輪廓測量儀,激光干涉儀,激光跟蹤儀,機(jī)床測頭,圖像尺寸測量儀,白光干涉儀
          中圖儀器SuperViewW1光學(xué)表面輪廓檢測儀主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓尺寸,此外具有測量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。
          光學(xué)表面輪廓檢測儀 產(chǎn)品信息

          中圖儀器SuperViewW1光學(xué)表面輪廓檢測儀主要是用于測量表面形貌或測量表面輪廓尺寸,此外具有測量晶圓翹曲度的功能,非常適合晶圓,太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量,應(yīng)變測量以及表面形貌測量。


          主要應(yīng)用領(lǐng)域

          1、用于太陽能電池測量;

          2、用于半導(dǎo)體晶圓測量;

          3、用于鍍膜玻璃的平整度(Flatness)測量;

          4、用于機(jī)械部件的計量;

          5、用于塑料,金屬和其他復(fù)合型材料工件的測量。


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          SuperViewW1光學(xué)表面輪廓檢測儀以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以優(yōu)于納米級的分辨率,測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等等領(lǐng)域??蓽y各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據(jù)ISO/ASME/EUR/GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)共計300余種2D、3D參數(shù)作為評價標(biāo)準(zhǔn)。


          產(chǎn)品功能

          1)設(shè)備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

          2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調(diào)亮度等自動化輔助功能;

          3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區(qū)域測量功能;

          4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區(qū)域提取等四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能;

          5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

          6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。


          部分參數(shù)

          Z向分辨率:0.1nm

          橫向分辨率(0.5λ/NA):100X~2.5X:0.5um~3.7um

          粗糙度RMS重復(fù)性:0.1nm

          表面形貌重復(fù)性:0.1nm

          臺階測量:重復(fù)性:0.1% 1σ;準(zhǔn)確度:0.75%



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