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詳情介紹：
利用 ZEISS METROTOM 輕松完成測量任務(wù)
Metrology inspection of a light metal component
測量與檢驗整體部件
ZEISS METROTOM 是一種用于測量和檢驗塑料或輕金屬部件的工業(yè)計算機斷層掃描測量系統(tǒng)。而在利用傳統(tǒng)測量機測量時，此類隱藏性的結(jié)構(gòu)信息只有將零件通過費時的層層破壞方能獲得。
Measurement of a base plug.
輕松且精準地進行多樣化特征檢測
利用 ZEISS METROTOM 計算機斷層掃描系統(tǒng)可一次掃描海量的零部件特征。這些測量結(jié)果非常精準，且具可追溯性。和接觸式測量方法不同，ZEISS METROTOM 獲取海量測量點時，時間顯著縮短。
ZEISS CT visualization and evaluation software
直觀簡易的軟件操作
僅需通過短時間的 ZEISS METROTOM OS 軟件培訓(xùn)課程，操作人員即可對零件進行掃描，透視零件的內(nèi)部。利用 ZEISS CALYPSO 可評估 CT 數(shù)據(jù)，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地將兩者融合于同一份測量報告中。
